укр
eng
"Ренгено-оптико-акустичні явища в реальних кристалах при комбінованому впливі різних фізичних полів"
Список публікацій:
- Resonant x-ray acoustic determination of the dominant type of the structure distortion in real crystals
L.I. Datsenko, D.O. Grigor'ev, A.V. Briginets, V.F. Machulin, and V.I. Khrupa // Crystallogr. Rep. 1994. 39, P.53 - Влияние дополнительных ультразвуковых деформаций на характер амплитудных зависимостей отражающей способности акустически возбужденного кристалла в условиях рентгеноакустического резонанса
Григорьев Д.О., Даценко Л.И., Мачулин В.Ф., Хрупа В.И. // УФЖ, 1993. Т.38. №11, С.1799-1804. - Диагностика структурного совершенства монокристаллов методом рентгеноакустического резонанса
Мачулин В.Ф., Хрупа В.И. // Металлофизика, 1993. Т.15, №9, С.3-25. - Рентгеновские исследования структурной однородности кристаллов CdTe.
Герко И.А., Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Меринов В.Н. // Заводская лаборатория, 1988. Т.54, №8. С.64-67.Download: [pdf] - Интегральные характеристики структурного совершенства монокристаллов, содержащих ростовые "декорированные" дислокации.
Даценко Л.И., Хрупа В.И., Кладько В.П., Николаев В.В. // В кн.: ”Свойства и структура дислокаций в полупроводниках”. М.:1986. C.87-89. - Простой рентгенодифракционный метод контроля глубины нарушенного слоя в реальных кристаллах.
Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Когут И.В. // Ред. журн. ”Элект. техника”, 1986. 6 с. Деп. в ЦНИИ “Электроника” – №4225. - Контроль толщины нарушенных слоев, образующихся при резке и шлифовке несовершенных кристаллов.
Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Фомин А.В., Хрупа В.И. // Заводская лаборатория, 1985, Т.51, №7, С.30-31Download: [pdf] - Интегральные характеристики структурного совершенства, определяемые из экспериментов по лауэ-дифракции в тонком кристалле.
Даценко Л.И., Молодкин В.Б., Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Хрупа В.И. // В сб.: ”Дефекты структуры в полупроводниках” Новосибирск, 1984. C.102-105.
