Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Хрупа Валерій Іванович
Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки за 1994 р. 
"Ренгено-оптико-акустичні явища в реальних кристалах при комбінованому впливі різних фізичних полів"

Список публікацій:
  1. Resonant x-ray acoustic determination of the dominant type of the structure distortion in real crystals
    L.I. Datsenko, D.O. Grigor'ev, A.V. Briginets, [machulin]V.F. Machulin[/machulin], and V.I. Khrupa  // Crystallogr. Rep. 1994. 39, P.53

  2. Влияние дополнительных ультразвуковых деформаций на характер амплитудных зависимостей отражающей способности акустически возбужденного кристалла в условиях рентгеноакустического резонанса
    Григорьев Д.О., Даценко Л.И., [machulin]Мачулин В.Ф.[/machulin], Хрупа В.И. // УФЖ, 1993. Т.38. №11, С.1799-1804.

  3. Диагностика структурного совершенства монокристаллов методом рентгеноакустического резонанса
    [machulin]Мачулин В.Ф.[/machulin], Хрупа В.И. // Металлофизика, 1993. Т.15, №9, С.3-25.

  4. Рентгеновские исследования структурной однородности кристаллов CdTe.
    Герко И.А., Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Меринов В.Н.  // Заводская лаборатория, 1988. Т.54, №8. С.64-67.

    Download: [pdf]

  5. Интегральные характеристики структурного совершенства монокристаллов, содержащих ростовые "декорированные" дислокации.
    Даценко Л.И., Хрупа В.И., Кладько В.П., Николаев В.В.  // В кн.: ”Свойства и структура дислокаций в полупроводниках”. М.:1986. C.87-89.

  6. Простой рентгенодифракционный метод контроля глубины нарушенного слоя в реальных кристаллах.
    Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Когут И.В.  // Ред. журн. ”Элект. техника”, 1986. 6 с. Деп. в ЦНИИ “Электроника” – №4225.

  7. Контроль толщины нарушенных слоев, образующихся при резке и шлифовке несовершенных кристаллов.
    Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Фомин А.В., Хрупа В.И.  // Заводская лаборатория, 1985, Т.51, №7, С.30-31

    Download: [pdf]

  8. Интегральные характеристики структурного совершенства, определяемые из экспериментов по лауэ-дифракции в тонком кристалле.
    Даценко Л.И., Молодкин В.Б., Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Хрупа В.И.  // В сб.: ”Дефекты структуры в полупроводниках” Новосибирск, 1984. C.102-105.

 
© 2006-2019