|
|
| |
Статті
- Lateral ordering of self-organized SiGe nanoislands grown on Si1-xGex sublayers
Валах M.Я., Кладько В.П., Николенко A.С., Стрельчук В.В., Литвин П.M., Гудыменко А.И., Слободян М.В., Красильник З.Ф., Новиков А.А. // Journal of Applied Physics. 2010. Т.109. (подготовка)
- X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
Kladko V.P., Kuchuk A.V., Safryuk N.V., Machulin V.F., Belyaev A.E., Konakova R.V., Yavich B.S. // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2010. V.13, No1. P.1-7.
- The relationship between strain relaxation and well/barrier thickness fluctuation in GaN/AlN short-period superlattices
A.V. Kuchuk, V.P. Kladko, N.V. Safryuk, A.E. Belyaev, Yu.I. Mazur, M.E. Ware, G.J. Salamo. // Journal of Crystal Growth, 2010. V.325, (in press)
- Рентгеновская дифрактометрия и сканирующая микро-рамановская спектроскопия неоднородностей структуры и деформаций по глубине многослойной гетероструктуры InGaN/GaN
Стрельчук В.В., Кладько В.П., Авраменко К.А., Коломыс А.Ф., Сафрюк Н.В., Конакова Р.В., Явич Б.С., Валах М.Я., Мачулин В.Ф., , Беляев А.Е.
// Физика и техника полупроводников, 2010. T.44. вып.9. C.1236-1247.
- Study of the mechanisms of oxygen precipitation in RTA annealed Cz-Si wafers
V. Litovchenko, I. Lisovskyy, M. Voitovych, A. Sarikov, S. Zlobin, V. Kladko, V. Machulin // Solid State Phenomena. 2010. V.156-158, P.279-282.
- Influence of template type and buffer strain on structural properties of GaN multilayer quantum wells grown by PAMBE. X-Ray study.
V.P. Kladko, A.V. Kuchuk, N.V. Safryuk, V.F. Machulin, P.M. Lytvyn, V.G. Raicheva, A.E. Belyaev, Yu.I. Mazur, E.A. DeCuir Jr, M.E. Ware, and G.J. Salamo // Journal of Physics D: Applied Physics, 2010. V.43. (in press)
- Reliability Tests of Au-metallized Ni-based Ohmic Contacts to 4H-n-SiC with and without Nanocomposite Diffusion Barriers.
Kuchuk A.V., Guziewicz M., Ratajczak R., Wzorek M., Kladko V.P., Piotrowska A.
// Materials Science Forum, 2010. V.645-648 (Silicon Carbide and Related Materials 2009). P.737-740.
- The features of temperature dependence of contact resistivity of Au-Ti-Pd2Si-p+-Si ohmic contacts
A.E. Belyaev, N.S. Boltovets, L.M. Kapitanchuk, R.V. Konakova, V.P. Kladko, Ya.Ya. Kudryk, A.V. Kuchuk, O.S. Lytvyn, V.V. Milenin, T.V. Korostinskaya, A.B. Ataubaeva, P.V. Nevolin // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2010. V.13, No1. P.8-11.
- Многопараметрическая диффузно-динамическая комбинированная дифрактометрия многослойных систем (Часть І. Кривые отражения в геометриях Лауэ и Брэгга)
В.Б. Молодкин, В.Л. Носик, В.Ф. Мачулин, В.П. Кладько, С.И. Олиховский, А.Ю. Гаевский, Е.Н. Кисловский, Е.Г. Лень, С.В. Лизунова, Е.С. Скакунова, С.В. Дмитриев, В.В. Молодкин // Металлофизика и новейшие технологии. 2010. (submitted)
- Эволюция деформационного состояния и компонентного состава при изменении числа КЯ в многослойных структурах InGaN/GaN
Кладько В.П., Кучук А.В., Сафрюк Н.В., Явич Б.C., Бер Б.Я., Казанцев Д.Ю., Беляев А.Е. // Физика и техника полупроводников, 2010. (підготовка до друку)
|
|
 |
|
укр
eng
