Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 

Список публікацій:
  1. Combined Multiparametric X-Ray Diffraction Diagnostics of Microdefects in Silicon Crystals after Irradiation by High-Energy Electrons
    E.N. Kislovskii, V.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, E.G. Len, B.V. Sheludchenko, S.V. Lizunova, T.P. Vladimirova, E.V. Kochelab, O.V. Reshetnyk, V.V. Dovganyuk, I.M. Fodchuk, T.V. Lytvynchuk, and V.P. Kladko // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques, 2013, 7, No3, P.523-530.

    Download: [pdf]

 
© 2006-2019