Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Кисловський Євген Миколайович

Список публікацій:
[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

  1. Combined Multiparametric X-Ray Diffraction Diagnostics of Microdefects in Silicon Crystals after Irradiation by High-Energy Electrons
    E.N. Kislovskii, V.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, E.G. Len, B.V. Sheludchenko, S.V. Lizunova, T.P. Vladimirova, E.V. Kochelab, O.V. Reshetnyk, V.V. Dovganyuk, I.M. Fodchuk, T.V. Lytvynchuk, and V.P. Kladko // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques, 2013, 7, No3, P.523-530.

    Download: [pdf]

  2. X-ray diffraction characterization of microdefects in silicon crystals after high-energy electron irradiation
    V.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, E.G. Len, B.V. Sheludchenko, S.V. Lizunova, Ye.M. Kyslovs’kyy, T.P. Vladimirova, E.V. Kochelab, O.V. Reshetnyk, V.V. Dovganyuk, І.М. Fodchuk, T.V. Lytvynchuk, V.P. Kladko, and Z. Świątek // Physica Status Solidi (А), 2011. V.208, Issue 11. P.2552-2557. (cited 4 times)

    Download: [pdf]

  3. Х-променева дифрактометрія змін мікродефектної структури кристалів кремнію після опромінення високоенергетичними електронами
    І.М. Фодчук, Т.П. Владімірова, В.В. Довганюк, О.В. Решетник, В.П. Кладько, В.Б. Молодкін, С.Й. Оліховський, Є.М. Кисловський, Є.В. Кочелаб, Т.В. Литвинчук, Р.Ф. Середенко // Металофізика і новітні технології, 2010, 32, №9, С.1213-1229.

    Download: [pdf]

  4. Трансформация в микродефектной структуре монокристаллов Cz-Si после облучения высокоэнергетическими электронами по данным рентгеновской дифрактометрии
    В.В. Довганюк, В.Б. Молодкін, В.П. Кладько, Є.М. Кисловський, С.Й. Оліховський, Т.В. Литвинчук, І.М. Фодчук, // Металлофизика и новейшие технологии, 2010, 32, №8, С.1049-1057.

    Download: [pdf]

  5. Sensitivity of triple-crystal X-ray diffractometers to microdefects in silicon
    V.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, E.G. Len, E.N. Kislovskii, V.P. Kladko, O.V. Reshetnyk, T.P. Vladimirova, B.V. Sheludchenko // Phys. Stat. Sol.(A), 2009. V.206. N8, p.1761-1765. DOI: 10.1002/pssa.200881588 (Cited 19 times)

    Download: [pdf]

  6. Дифракційна характеризація мікродефектної структури ізохронно відпалених кристалів кремнію
    В.Б. Молодкін, В.П. Кладько, С.Й. Оліховський, Є.М. Кисловський, Т.П. Владімірова, Є.В. Кочелаб, Р.Ф. Середенко, М.В. Слободян, О.В. Решетник // Металофізика і новітні технології, 2009. Т.31, №9. С.1205-1222. (Cited 2 times)

    Download: [pdf]

  7. Новые диагностические возможности деформационных зависимостей интегральной интенсивности рассеяния кристаллами с дефектами для лауэ-дифракции в области К-края поглощения.
    А.П. Шпак, В.Б. Молодкин, М.В. Ковальчук, В.Л. Носик, А.И. Низкова, В.Ф. Мачулин, И.В. Прокопенко, Е.Н. Кисловский, В.П. Кладько, С.В. Дмитриев, Е.В. Первак, Е.Г. Лень, А.А. Белоцкая, Я.В. Василик, А.И. Гранкина, И.Н. Заболотный, А.А. Катасонова, М.Т. Когут, О.С. Кононенко, А.В. Мельник, В.В. Молодкин, Л.И. Ниничук, И.И. Рудницкая. // Металлофизика и новейшие технологии, 2009, Т.31. №7, С.927-945. (cited 2 times)

    Download: [pdf]

  8. Новые диагностические возможности деформационных зависимостей интегральной интенсивности рассеяния кристаллами с дефектами для лауэ-дифракции в условиях нарушения закона Фриделя.
    А.П. Шпак, В.Б. Молодкин, М.В. Ковальчук, В.Л. Носик, А.И. Низкова, В.Ф. Мачулин, И.В. Прокопенко, Е.Н. Кисловский, В.П. Кладько, С.В. Дмитриев, Е.В. Первак, Е.Г. Лень, А.А. Белоцкая, Я.В. Василик, А.И. Гранкина, И.Н. Заболотный, А.А. Катасонова, М.Т. Когут, О.С. Кононенко, А.В. Мельник, В.В. Молодкин, Л.И. Ниничук, И.И. Рудницкая. // Металлофизика и новейшие технологии, 2009, Т.31. №8, С.1041-1049.

    Download: [pdf]

  9. Контроль толщины нарушенного слоя в структурно-неоднородных монокристаллах
    Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Фомин А.В. // Заводская лаборатория, 1989, Т.55, №4. С.61-64.

  10. Способ контроля структурного совершенства монокристаллов
    Даценко Л.И., Гуреев А.Н., Хрупа В.И., Кисловский Е.Н., Кладько В.П,, Низкова А.И., Прокопенко И.В., Скороход М.Я.. // Авторське свідоцтво на винахід №1255906

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

 
© 2006-2017