укр
eng
В 1973 р. закінчив факультет електроніки Київського Політехнічного Інституту (м. Київ) за спеціальністю “фізика”.
Кандидат фізико-математичних наук, 30.06.1978 р. Дисертація захищена у спеціалізованій вченій раді при Інституті фізики напівровідників АН УРСР.
Доктор фізико-математичних наук, 04.06.1995 р. Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Інституту металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України.
Член-кореспондент НАН України, обраний 07.04.2000 р.
Професор за спеціальністю “Фізика твердого тіла”, присвоєно 2007 р.
Академік НАН України, обраний 03.02.2009 р.
Основні етапи науково-педагогічної діяльності:
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України:
1973 – 1977 – Аспірант ІФН НАН України
15.05.1979 – Молодший науковий співробітник ІФН НАН України
11.02.2003 – по т.ч. – Директор ІФН НАН України
Президія НАН України:
23.11.81 – 29.09.83 – Науковий співробітник- консультант Науково-організаційного відділу Президії АН УРСР
29.09.83 – 05.05.88 – Заступник начальника Науково-організаційного відділу, керівник сектора Президії АН УРСР
12.04.93 – 07.02.03 – Начальник Науково-організаційного відділу Президії НАН України
Вища атестаційна комісія України:
З 01.08.2003 р. – Голова ВАК України
Двічі Лауреат державних премій України в галузі науки і техніки (1994 р. та 2003 р.).
"Ренгено-оптико-акустичні явища в реальних кристалах при комбінованому впливі різних фізичних полів" (1994 р.)
"Монокристали сапфіру: розробка високорентабельних технологій, освоєння промислового виробництва конкурентноздатних на світовому ринку сапфірових елементів для оптики, електроніки та медицини" (2003 р.)
Підготував двох докторів наук: Гололобов Ю.І. (спеціальність 01.04.10 – фізика напівпровідників та діелектриків, 1999 р.), Кладько В.П. (спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла, 2000 р.) та двох кандидатів наук: Красуля С.М. (спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла, 1996 р.) та Мельник В.М. (спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла, 2000 р.).
В.о. члена Президії НАН України, який відповідає за зв”язки НАН України з Держспоживстандартом України та ВАК України. Член Бюро Відділення фізики та астрономії України. Член міжвідомчої Ради з координації фундаментальних досліджень в Україні.
Список публікацій:
- Новые диагностические возможности деформационных зависимостей интегральной интенсивности рассеяния кристаллами с дефектами для лауэ-дифракции в условиях нарушения закона Фриделя.
А.П. Шпак, В.Б. Молодкин, М.В. Ковальчук, В.Л. Носик, А.И. Низкова, В.Ф. Мачулин, И.В. Прокопенко, Е.Н. Кисловский, В.П. Кладько, С.В. Дмитриев, Е.В. Первак, Е.Г. Лень, А.А. Белоцкая, Я.В. Василик, А.И. Гранкина, И.Н. Заболотный, А.А. Катасонова, М.Т. Когут, О.С. Кононенко, А.В. Мельник, В.В. Молодкин, Л.И. Ниничук, И.И. Рудницкая. // Металлофизика и новейшие технологии, 2009, Т.31. №8, С.1041-1049.Download: [pdf] - Вплив радіуса кривизни багатошарових структур на спектри дифракції Х-променів
В.П. Кладько, М.В. Слободян, В.Ф. Мачулін // Український фізичний журнал, 2008, T.53. №2. C.167-171.Download: [pdf] - (X-ray dynamical diffraction in multilayers) Динамічна дифракція Х-променів в багатошарових структурах.
Єфанов О.М., Кладько В.П., Мачулін В.Ф., Молодкін В.Ю. (Yefanov O.M., Kladko V.P., Machulin V.F., Molodkin V.B. (in Ukrainian)) // (монографія) Київ, 2008 р. Наукова думка, – 219 с. http://x-ray.net.ua/print/books/ - Structural anisotropy of InGaAs/GaAs(001) quantum dot chains structures
V.P. Kladko, M.V. Slobodian, V.V. Strelchuk, O.M. Yefanov, V.F. Machulin, Yu.I. Mazur, Zh.M. Wang, and G.J. Salamo // Phys. Stat. Sol. (a) 204, No. 8, 2567–2571 (2007) DOI 10.1002/pssa.200675678 (cited 2 times)Download: [pdf] - Влияние латеральных модуляций состава на зарождение и упорядочение массива квантовых островков в многослойных периодических структурах InхGa1-хAs/ GaAs.
В.П. Кладько, В.В.Стрельчук, Н.В.Слободян, А.Н.Ефанов, В.Ф.Мачулин, Yu. I. Mazur, Zh. M. Wang, G. J. Salamo // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2007, Т.5, вип.3, C.729-738.Download: [pdf] - Диагностика дефектов монокристаллов по деформационным зависимостям полной интегральной отражательной способности І. Лауэ дифракция в условиях аномального прохождения.
Шпак А.П., Молодкин В.Б., Дмитриев С.В., Первак Е.В., Рудницкая И.И., Динаев Ю.А., Низкова А.И., Кононенко О.С., Катасонов А.А., Заболотный И.Н., Мельник А.В., Василик Я.В., Пархоменко Т.И., Ниничук Л.И., Мачулин В.Ф., Прокопенко И.В. // Металлофизика и нов. технологии. 2007. Т.29, №8. С.1009-1019. - Investigation of indium distribution in InGaAs/GaAs quantum dot stacks using high-resolution x-ray diffraction and Raman scattering
Yu. I. Mazur, Zh. M. Wang, and G. J. Salamo, V. V. Strelchuk, V. P. Kladko, V. F. Machulin, and M. Ya. Valakh, M. O. Manasreh // Journal of Applied Physics, 2006, V. 99, Issue 2, P.023517(1-10). DOI: 10.1063/1.2163009 (cited 8 times)Download: [pdf] - Термическая стабильность аморфных тонких Ta-Si-N пленок в системе металлизации Au/GaN
А.В. Кучук, В.П. Кладько, В.Ф. Мачулин, A. Piotrowska // Журнал технической физики, 2006, T.76, вып.10. C.132-135. (cited 3 times)Download: [pdf] - Thermal Stability of Thin Amorphous Ta–Si–N Films Used in Au/GaN Metallization
A.V. Kuchuk, V.P. Klad’ko, V.F. Machulin, and A. Piotrowska // Technical Physics, 2006, Vol. 51, No. 10, pp. 1383–1385.Download: [pdf] - Dynamical theory of coplanar n-beam X-ray diffraction in multilayered structures
O.M. Yefanov, V.P. Kladko, V.F. Machulin // Ukr. J. Phys. 2006. V.51, N 9. C.895-901.Download: [pdf]
