Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Кривий Сергій Борисович
Кандидат фізико-математичних наук, науковий співробітник відділу №01 ІФН НАНУ

Дата та місце народження: 25 лютого 1991, Чернівецька область


Освіта

2008-2012 Бакалавр фізики твердого тіла, Чернівецький національний університет;
2012-2013 Магістр фізики твердого тіла, Чернівецький національний університет;
2013-2016 Аспірант Інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України 

Наукові ступені та звання: 
2017 – Кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України

Кар’єра: 
2016- до тепер - науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України

Кандидатська дисертація "Високороздільна Х-променева діагностика впливу деформацій на структуру нанорозмірних систем" захищена на Спецраді ІФН 15.11.2017 р. 

Публікації:
- Загальна кількість статей в реферованих журналах: 18
- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 18
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 71 (h-index = 5)
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Google Scholar: 125 (h-index = 7)
- Патенти: 1


Список публікацій:
[<< попередня] ----- 1 2 3 ----- [наступна >>]

  1. Reflectometry study of nanoporous films with arrays gold nanoparticles
    V.P. Kladko, O.Y. Gudymenko, S.B. Kriviy, P.M. Litvin, E.B. Kaganovich, I.M. Krishenko, E.G. Manoilov // Ukrainian Journal of Physics, 2014, V.59, No9, P.915-921.

    Download: [pdf]

[<< попередня] ----- 1 2 3 ----- [наступна >>]

 
© 2006-2024