Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Main
History
Structure
Apparature
Activities
Publications
Software
Contact us
Postgraduate study
 
Гудименко Олександр Йосипович

Список публікацій:
[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

  1. Lateral ordering of self-organized SiGe nanoislands grown on Si1-xGex sublayers
    Валах M.Я., Кладько В.П., Николенко A.С., Стрельчук В.В., Литвин П.M., Гудыменко А.И., Слободян М.В., Красильник З.Ф., Новиков А.А. // Journal of Applied Physics. 2011. Т.109. (подготовка)

  2. Методичні аспекти рентгенодифрактометричного контролю складу шарів багатокомпонентних сполук
    Слободян М.В., Гудименко О.Й., Кладько В.П. // Український фізичний журнал, 2011.

  3. Особливості зародження та упорядкування GeSi наноострівців в багатошарових структурах, сформованих на Si та Si1-xGex буферних шарах
    В.O. Юхимчук, M.Я. Валах, В.П. Kладько, M.В. Слободян, O.Й. Гудименко, З.Ф. Красільнік, О.В. Новіков // Український Фізичний Журнал, 2010, T.55, (in press)

  4. Influence of small miscuts on self-ordered growth of Ge nanoislands
    Kladko V.P., Slobodian M.V., Gudymenko O.Yo., Krasilnik Z.F., Lobanov D.N., Novikov А.V.  // Applied Physics Letter

  5. Особливості дефектоутворення в приповерхневих шарах монокристалів кремнію при акустостимульованій імплантації іонів бору та миш'яку
    О.Й. Гудименко, В.П. Кладько, В.П. Мельник, Я.М. Оліх, В.Г. Попов, Б.М. Романюк, М.В. Слободян, П.П. Когутюк  // Український фізичний журнал, 2008, т.53, №2. C.140-145.

    Download: [pdf]

  6. Влияние анизотропии полей деформации в многослойных структурах на спектры отражения рентгеновских лучей
    А.Н. Ефанов, В.П. Кладько, А.И. Гудыменко, В.В. Стрельчук, Ю. Мазур, Чж. Ванг, Г. Саламо // Металлофизика новейшие технологии. /Metall. phys. and Adv. Technol. 2006, т.28, №4, с.441—448

    Download: [pdf]

  7. Fields of deformation anisotropy exploration in multilayered (In,Ga)As/GaAs structures by high-resolution X-ray scattering
    O. Yefanov, V. Kladko, O. Gudymenko, V.Strelchuk, Yu.Mazur, Zh.Wang, G.Salamo // Phys. Stat. Sol. (a) 203, No. 1, 154–157 (2006) (cited 3 times)

    Download: [pdf]

  8. Effect of growth temperature on the luminescent and structural properties of InGaAsSbN/GaAs quantum wells for 1.3 mkm telecom application
    L. Borkovska, O. Yefanov, O. Gudymenko, S. Johnson, V. Kladko, N. Korsunska, T. Kryshtab, Yu. Sadofyev, Y.-H. Zhang // Thin Solid Films 515 (2006) 786 – 789. (Cited 2 times)

    Download: [pdf]

  9. Study of strain relaxation in CdSe/ZnSe nanostructures
    L. Borkovska, R. Beyer, O. Gudymenko, V. Kladko, N. Korsunska, T. Kryshtab, Yu. Sadofyev, Ye. Venger // Journal of Crystal Growth, 2005, 275, Issues 1-2. e2281-e2287. (cited 2 times)

    Download: [pdf]

  10. Enhanced relaxation of SiGe layers by He implantation supported byin situ ultrasonic treatments
    B. Romanjuk, V. Kladko, V. Melnik, V. Popov, V. Yukhymchuk, A. Gudymenko, Ya. Olikh, G. Weidner, D. Kruger // Materials Science in Semiconductor Processing V.8 (2005) 171–175. (cited 4 times)

    Download: [pdf]

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

 
© 2006-2010. Developed by web-studio "DreamArts"