Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Скороход Михайло Якович

Народився 14 лютого 1939 року в с. Паришів на Київщині в родині селян. Помер 17 листопада 2005 року в м. Києві.

Відомий український фізик-експериментатор, кандидат фізико-математичних наук (1971 р.).

Закінчив Київський Національний університет ім.Т.Шевченка в 1962 р.

Пройшов трудовий і творчий науковий шлях від інженера до старшого наукового співробітника. 

Один з фундаторів рентгенотопографічних досліджень в СРСР. Основні роботи присвячені вивченню дефектної структури реальних кристалів методами рентгенівської топографії.

Автор більше 150 наукових і науково-популярних праць та 2 свідоцтв на винаходи.


Список публікацій:
  1. Concerning the subject of X-ray scattering by large dislocation loops
    V.P. Klad’ko, M.Ya. Skorokhod, L.I. Datsenko, O.I. Gudymenko // Український Фізичний Журнал, 2002, Т.47, №7. C.675-679.

    Download: [pdf]

  2. On the Transition between Dvnamical and Kinematical X-Ray Diffraction in Thin Crystals with Randomly Distributed Dislocations
    V.I. Khrupa, V.V. Nikolaev, and M.YA. Skorokhod  // Phys. Stat. Sol.(a), 116, K141 (1989)

    Download: [pdf]

  3. Исследование типа доминирующих микродефектов в “бездислокационном” теллуриде кадмия.
    Гуреев А.Н., Кладько В.П. Даценко Л.И., Скороход М.Я.  // Український Фізичний Журнал, 1986. Т.31, №1 С.101-104

    Download: [pdf]

  4. Способ контроля структурного совершенства монокристаллов
    Даценко Л.И., Гуреев А.Н., Хрупа В.И., Кисловский Е.Н., Кладько В.П,, Низкова А.И., Прокопенко И.В., Скороход М.Я.. // Авторське свідоцтво на винахід №1255906

  5. Исследование совершенства кристаллов однокристальным спектрометром в случае Лауэ-дифракции
    Скороход М.Я., Даценко Л.И., Гуреев А.Н., Васильковский А.С. // УФЖ. 1970. Т.15, №5, С.787-795.

 
© 2006-2017