Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Скороход Михайло Якович
Скороход Михайло Якович - кандидат фізико-математичних наук, старший науковий співробітник.

Народився 1939 р. на Київщині, помер 2005 року в м. Києві.

М.Я. Скороход є одним з фундаторів рентгенотопографічних методів дослідження структури монокристалів в Україні і колишньому СРСР. За його участі були отриманi фундаментальнi результати в дослiдженнi структури напiвпровiдникiв, розсiяння рентгенiвських променiв реальними кристалами. Першi приклади топограм кристалiв Ge, SiC з дислокацiями, тонкоплiвкових гетероепiтаксiйних систем з так званою фрагментарною структурою, одержанi в нашiй лабораторiї М.Я. Скороходом. Найцiкавiшi топографiчнi данi по дефектних структурах, що виникають в процесi росту кристалiв, а також при пластичнiй їх деформацiї узагальненi в його кандидатськiй дисертацiї.

Список публікацій:
  1. Concerning the subject of X-ray scattering by large dislocation loops
    V.P. Klad’ko, M.Ya. Skorokhod, L.I. Datsenko, O.I. Gudymenko // Український Фізичний Журнал, 2002, Т.47, №7. C.675-679.

    Download: [pdf]

  2. On the Transition between Dvnamical and Kinematical X-Ray Diffraction in Thin Crystals with Randomly Distributed Dislocations
    V.I. Khrupa, V.V. Nikolaev, and M.YA. Skorokhod  // Phys. Stat. Sol.(a), 116, K141 (1989)

    Download: [pdf]

  3. Исследование типа доминирующих микродефектов в “бездислокационном” теллуриде кадмия.
    Гуреев А.Н., Кладько В.П. Даценко Л.И., Скороход М.Я.  // Український Фізичний Журнал, 1986. Т.31, №1 С.101-104

    Download: [pdf]

  4. Способ контроля структурного совершенства монокристаллов
    Даценко Л.И., Гуреев А.Н., Хрупа В.И., Кисловский Е.Н., Кладько В.П,, Низкова А.И., Прокопенко И.В., Скороход М.Я. // Авторське свідоцтво на винахід №1255906

  5. Исследование совершенства кристаллов однокристальным спектрометром в случае Лауэ-дифракции
    Скороход М.Я., Даценко Л.И., Гуреев А.Н., Васильковский А.С. // УФЖ. 1970. Т.15, №5, С.787-795.

 
© 2006-2020