Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Слободян Микола Васильович
Слободян Микола - кандидат фізико-математичних наук, науковий співробітник

Дата та місце народження: 28 червня 1983, м.ЧернівціМикола Слободян


Освіта:
1997-2000 Чернівецький міський фізико-математичний ліцей №1;
2000-2004 Бакалавр фізики твердого тіла з відзнакою, Чернівецький національний університет;
2004-2005 Магістр фізики твердого тіла з відзнакою, Чернівецький національний університет;
2005-     Аспірант інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України

Захистив кандидатську дисертацію „Вплив тривимірного впорядкування та деформацій на дифракцію Х-променів у реальних багатошарових структурах

20.02.2009 р.


Область наукових інтересів: дифракція Х-променів, багатошарові епітаксійні структури, моделювання процесів розсіяння.


Нагороди та премії:
Перша премія за найкращу усну доповідь англійською мовою на міжнародному науковому семінарі «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)» (Великий Новгород, Росія, 2006).

Іноземні мови: англійська розмовна, технічна 

Публікації:
- Загальна кількість статей в реферованих журналах: 16
- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 13
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 53 (h-index = 4)
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Google Scholar: 85 (h-index = 7)


Список публікацій:

  1. Дифракційна характеризація мікродефектної структури ізохронно відпалених кристалів кремнію
    В.Б. Молодкін, В.П. Кладько, С.Й. Оліховський, Є.М. Кисловський, Т.П. Владімірова, Є.В. Кочелаб, Р.Ф. Середенко, М.В. Слободян, О.В. Решетник // Металофізика і новітні технології, 2009. Т.31, №9. С.1205-1222. (Cited 2 times)

    Download: [pdf]

  2. Influence of the Curvature Radius of Multilayer Structures on X-Ray Diffraction Spectra
    V.P. Kladko, M.V. Slobodyan, V.F. Machulin // Ukrainian Journal of Physics, 2008, T.53. №2. C.167-171. (cited 2 times)

    Download: [pdf]

  3. Особливості дефектоутворення в приповерхневих шарах монокристалів кремнію при акустостимульованій імплантації іонів бору та миш'яку
    О.Й. Гудименко, В.П. Кладько, В.П. Мельник, Я.М. Оліх, В.Г. Попов, Б.М. Романюк, М.В. Слободян, П.П. Когутюк  // Український фізичний журнал, 2008, т.53, №2. C.140-145. cited 2 times

    Download: [pdf]

  4. A new type of structural defects in CdZnSe/ZnSe heterostructures.
    L.Borkovska, N.Korsunska, V.Kladko, M.Slobodyan, O.Yefanov, Ye.Venger, T.Kryshtab, Yu.Sadofyev, I.Kazakov // Microelectronics Journal. 2008. V. 39, Issue 3-4, P.589-593.

    Download: [pdf]

  5. Effect of Growth Defects on the Structure of Oxygen Precipitates in Cz-Si Crystals of Different Diameter.
    Litovchenko V.G., Lisovskyy I.P., Claeys C., Kladko V.P., Zlobin S.O., Muravska M.V., Efremov O.O., Slobodian M.V.  // Solid State Phenomena. 2008. V.131-133, P.405-412. (cited 1 times)

    Download: [pdf]

  6. Дослідження внутрішніх механічних напружень в кристалах Si, вирощених методом безтигельної зонної плавки
    Асніс Ю.А., Баранський П.І., Бабич В.М., Заболотін С.П., Кладько В.П., Слободян М.В.  // Металлофизика и новейшие технологии. 2008, Т.30, № 9. С.1229-1238.

    Download: [pdf]

  7. XVis: educational open source program for demonstration of reciprocal space construction and diffraction principles
    O. Yefanov, V. Kladko, M. Slobodyan, Yu. Polischuk // Journal of Applied Crystallography, 2008. V.41. Part 3. P.647-652. doi:10.1107/S0021889808008625

    Download: [pdf]

  8. Engineering of 3D self-directed QD ordering in multi-layer InGaAs/GaAs nanostructures by flux gas composition.
    P.M. Lytvyn, Yu.I. Mazur, Jr.E. Marega, V.G. Dorogan, V.P. Kladko, M.V. Slobodian, V.V. Strelchuk, M.L. Hussein, M.E. Ware and Gregory J. Salamo // Nanotechnology, 2008. V.19. No 50. 505605 (7pp.). doi: 10.1088/0957-4484/19/50/505605 (Cited 3 times)

    Download: [pdf]

  9. Механизм термостабильности Si большого диаметра, полученного методом Чохральского.
    Литовченко В.Г., Лісовський І.П., Кладько В.П., Ефремов А.А., Злобін С.О., Слободян Н.В.  // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2008, №3, С.37-42.

    Download: [pdf]

  10. Вплив опромінення високоенергетичними електронами на дефектну структуру монокристалів Cz-Si згідно високороздільної трикристальної Х-променевої дифрактометрії.
    І.М. Фодчук, В.В. Довганюк, В.П. Кладько, М.В. Слободян, Т.В. Литвинчук, Свянтек З. // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. 2008, Вип.420, С.40-44.

    Download: [pdf]


 
© 2006-2024