Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Єфанов Олександр Миколайович
Єфанов Олександр - кандидат фізико-математичних наук, науковий співробітник 

Дата та місце народження: 21 серпня 1979, м.Київ


Освіта:
1998-2003 р. студент Київського Національного університету ім. Тараса Шевченка, радіофізичний факультет;
2003-2006 р.  Аспірант інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України

Наукові ступені та звання: 
2006 – кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла)

Карєра:

2006-2009 - науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України.

2009-дотепер - науковий співробітник синхротронного центру "DESY" (Німеччина)


Кандидатська дисертація  „Динамічна дифракція Х-променів у багатошарових структурах”  захищена 15.12.2006 р.

Публікації:

- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 100
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 2902 (h-index = 26)
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Google Scholar: 976 (h-index = 30)

 


Список публікацій:

  1. Влияние анизотропии полей деформации в многослойных структурах на спектры отражения рентгеновских лучей
    А.Н. Ефанов, В.П. Кладько, А.И. Гудыменко, В.В. Стрельчук, Ю. Мазур, Чж. Ванг, Г. Саламо // Металлофизика новейшие технологии. /Metall. phys. and Adv. Technol. 2006, т.28, №4, с.441—448

    Download: [pdf]

  2. Моделирование дифракции рентгеновских лучей от многослойной структуры с различным градиентом состава на границах слоев
    А.Н. Ефанов, В.П. Кладько // Металлофизика и новейшие технологии. / Metallofiz. Noveishie Tekhnol. 2006, т. 28, № 5, сс. 619—629

    Download: [pdf]

  3. Fields of deformation anisotropy exploration in multilayered (In,Ga)As/GaAs structures by high-resolution X-ray scattering
    O. Yefanov, V. Kladko, O. Gudymenko, V.Strelchuk, Yu.Mazur, Zh.Wang, G.Salamo // Phys. Stat. Sol. (a) 203, No. 1, 154–157 (2006) (cited 7 times)

    Download: [pdf]

  4. Effect of growth temperature on the luminescent and structural properties of InGaAsSbN/GaAs quantum wells for 1.3 mkm telecom application
    L. Borkovska, O. Yefanov, O. Gudymenko, S. Johnson, V. Kladko, N. Korsunska, T. Kryshtab, Yu. Sadofyev, Y.-H. Zhang // Thin Solid Films, (2006). 515, P.786 – 789. (Cited 3 times)

    Download: [pdf]

  5. Dynamical theory of coplanar n-beam X-ray diffraction in multilayered structures
    O.M. Yefanov, V.P. Kladko, V.F. Machulin // Ukr. J. Phys. 2006. V.51, N 9. C.895-901. (Cited 3 times)

    Download: [pdf]

  6. Компланарна багатопроменева динамічна теорія дифракції Х-променів у шаруватих структурах
    О.М. Єфанов, В.П. Кладько, В.Ф. Мачулін // Укр. фіз. журн. 2006. Т.51, №9. C.895-901. (Cited 3 times)

    Download: [pdf]

  7. Динамический расчет карт обратного пространства частично релаксированных многослойных структур некомпланарным многоволновым методом
    А.Н. Ефанов, В.П. Кладько, И.С. Савельева // Материалы третьего международного научного семинара "Современные методы анализа дифракционных данных (торография, дифрактометрия, электронная микроскопия)" (22-25 мая, 2006, Великий Новгород, Россия)

    Download: [pdf]

  8. Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
    V.V. Strelchuk, V.P. Kladko, O.M. Yefanov, O.F. Kolomys, O.I. Gudymenko, M.Ya. Valakh, Yu.I. Mazur, Z.M. Wang, and G.J. Salamo // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005. V. 8, N 1. P. 36-45. (Cited 7 times)

    Download: [pdf]

  9. Manifestation of spatial ordering of quantum dots in multilayered SiGe nanostructures in X-Ray diffraction patterns
    V.P. Kladko, V.F. Machulin, O.M. Yefanov, V.A. Yukchimchuk, O.I. Gudymenko, P.P. Kogutyuk, A.V. Shalimov // Ukr. J. Phys. 2005. V. 50, N 9

    Download: [pdf]

  10. Прояв просторового упорядкування квантових острівців у багатошарових наноструктурах SiGe у рентгенівській дифракції
    В.П. Кладько, В.Ф. Мачулін, О.М. Єфанов, В.О. Юхимчук, О.Й. Гудименко, П.П. Когутюк, А.В. Шалімов // Український фізичний журнал 2005. Т. 50, № 9

    Download: [pdf]


 
© 2006-2024