Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Публiкацiї вiддiлу
Дисертації співробітників відділу
Автор НазваРікАфторефератДисертація
Кладько В.П. к/д "Зависимость рассеяния рентгеновского тормозного излучения от структурного совершенства монокристалов бинарных и тройных соединений" 1986 [pdf]
Кладько В.П. д/д "Вплив точкових дефектів і їх асоціацій на розсіювання рентгенівських променів реальними кристалами напівпровідників" 2000 [pdf] [rar]
Кучук А.В. к/д "Структура та фізичні властивості тонкоплівкових дифузійних бар’єрів W-Ti-N та Ta-Si-N на підкладках арсеніду та нітриду галію" 2006 [pdf] [pdf]
Єфанов О.М. к/д "Динамічна дифракція Х-променів в багатошарових структурах" 2006 [rus][ukr][eng] [pdf]
Корчовий А.А. к/д "Розсіяння Х-променів шаруватими періодичними структурами та діагностика їх параметрів" 2007 [pdf] [pdf]
Слободян М.В. к/д "Вплив тривимірного впорядкування та деформацій на дифракцію Х-променів в реальних багатошарових структурах" 2009 [pdf] [pdf]
Гудименко О.Й. к/д "Рентгенівська дифрактометрія приповерхневих шарів та гетероструктур на основі Si(Ge) та In(Ga)As" 2011 [pdf] [pdf]
Сафрюк Н.В. к/д Рентгеноструктурна характеризація багатошарових систем Al(In)GaN на полярних площинах сапфіру 2011 [pdf] [pdf]

 
© 2006-2018