Слободян Микола - кандидат фізико-математичних наук, науковий співробітник

Дата та місце народження: 28 червня 1983, м.Чернівці

Освіта:
1997-2000 Чернівецький міський фізико-математичний ліцей №1;
2000-2004 Бакалавр фізики твердого тіла з відзнакою, Чернівецький національний університет;
2004-2005 Магістр фізики твердого тіла з відзнакою, Чернівецький національний університет;
2005-     Аспірант інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України

Захистив дисертацію „Вплив тривимірного впорядкування та деформацій на дифракцію Х-променів у реальних багатошарових структурах”

20.02.2009 р.

Область наукових інтересів: дифракція Х-променів, багатошарові епітаксійні структури, моделювання процесів розсіяння.

Нагороди та премії:
Перша премія за найкращу усну доповідь англійською мовою на міжнародному науковому семінарі «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)» (Великий Новгород, Росія, 2006).

Іноземні мови: англійська розмовна, технічна 

Екпериментальна робота: високороздільний Х-променевий дифрактометр PANalytical X’Pert Pro MRD XL

Список публікацій:

1. Lateral ordering of self-organized SiGe nanoislands grown on Si1-xGex sublayers
   Валах M.Я., Кладько В.П., Николенко A.С., Стрельчук В.В., Литвин П.M., Гудыменко А.И., Слободян М.В., Красильник З.Ф., Новиков А.А. // Journal of Applied Physics. 2010. Т.109. (подготовка)

---

2. Методичні аспекти рентгенодифрактометричного контролю складу шарів багатокомпонентних сполук
   Слободян М.В., Гудименко О.Й., Кладько В.П. // Український фізичний журнал, 2010.

---

3. Оптичні та структурні властивості багатошарових структур з GeSi наноострівцями
   V.O. Yukhymchuk, M.Ya. Valakh, V.P. Kladko, A.V. Novikov, O.Yo. Gudymenko, M.V. Slobodian // УФЖ, 2010

---

4. Structural changes in Cz-Si single-crystal irradiated by high-energy electron from high-resolution X-ray diffractometry
   І.М. Fodchuk, V.V. Dovganyuk, Т.V. Litvinchuk, V.P. Kladko, М.V. Slobodian, Z. Swiatek // SPQO, 2010

---

5. Mechanisms of oxygen precipitation in Cz-Si subjected to rapid thermal annealing
   Andrey Sarikov, Maria Vitovich, Sergey Zlobin, Igor Lisovskyy, Vladimir Litovchenko, Mikola Slobodian, Vasyl Kladko, and Vladimir Machulin  // APL

---

6. Influence of small miscut of substrate and buffer layer Si1-xGex on grown SiGe lateral ordering nanoislands
   Kladko V.P., Slobodian M.V., Gudymenko O.Yo., Krasilnik Z.F., Lobanov D.N., Novikov А.V.  // Applied Physics Letter

---

7. Internal strains and crystal structure of the layers in AlGaN/GaN heterostructures grown on sapphire substrate
   Kladko V.P., Kolomys O.F., Slobodian M.V., Strelchuk V.V., Raycheva V.G., Belyaev O.Ye., Bukalov S.S., Hardtdegen H., Sydoruk V.A., Klein N. and Vitusevich S.A.  // Journal of Applied Physics, 2009. V.105. Issue 6. P.063515(9). DOI: 10.1063/1.3094022 (Cited 6 times)
   
   
   Download: [pdf]

---

8. Self-organized three-dimensional spatial ordering of quantum dot arrays in InGaAs/GaAs
   V.P. Kladko, М.V. Slobodian, P.M. Lytvyn, V.V. Strelchuk, Yu.I. Mazur, E. Marega, M. Hussein and G.J. Salamo // Phys. Stat. Solidi (a), 2009. V.206. No 8. P.1748-1751. DOI 10.1002/pssa.200881593
   
   
   Download: [pdf]

---

9. Дифракційна характеризація мікродефектної структури ізохронно відпалених кристалів кремнію
   В.Б. Молодкін, В.П. Кладько, С.Й. Оліховський, Є.М. Кисловський, Т.П. Владімірова, Є.В. Кочелаб, Р.Ф. Середенко, М.В. Слободян, О.В. Решетник // Металофізика і новітні технології, 2009. Т.31, №9. С.1205-1222.
   
   
   Download: [pdf]

---

10. Вплив радіуса кривизни багатошарових структур на спектри дифракції Х-променів
    В.П. Кладько, М.В. Слободян, В.Ф. Мачулін // Український фізичний журнал, 2008, T.53. №2. C.167-171.
    
    
    Download: [pdf]

---