укр
eng
Кандидат фізико-математичних наук, науковий співробітник відділу №01 ІФН НАНУ
Дата та місце народження: 14 червня 1987, Чернівецька область
Освіта
2007-2011 Бакалавр фізики твердого тіла, Чернівецький національний університет;
2011-2012 Магістр фізики твердого тіла, Чернівецький національний університет;
2012-2015 Аспірант Інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН
України
Наукові ступені та звання:
2016 – Кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла).
Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д.26.199.01 Інституту фізики
напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України
Кар’єра:
2015- до тепер - науковий співробітник інституту фізики
напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України
Кандидатська дисертація "Високороздільна Х-променева дифрактометрія GaN і градієнтних AlGaN плівок та нанодротів" захищена на Спецраді ІФН 07.09.2016 р.
Публікації:
- Загальна кількість статей в реферованих журналах: 25
- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 23
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 111 (h-index = 6)
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Google Scholar: 197 (h-index = 8)
Список публікацій:
- The Peculiarities of Strain Relaxation in GaN/AlN Superlattices Grown on Vicinal GaN (0001) Substrate: Comparative XRD and AFM Study
Andrian V. Kuchuk, Serhii Kryvyi, Petro M. Lytvyn, Shibin Li, Vasyl Kladko, Morgan E. Ware, Yuriy I. Mazur, Nadiia Safryuk, Hryhorii Stanchu, Alexander E. Belyaev and Gregory J. Salamo // Nanoscale Research Letters, 2016, V11, 252Download: [pdf] - Structural properties of chalcogenide glasses As2Se3 doped with manganese
O.P. Payuk, L.O. Revutska, A.V. Stronski, O.Yo. Gudymenko, H.V. Stanchu, A.A. Gubanova, Ts.A. Kryskov // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, 2016, V.19, N2, P.205-207.Download: [pdf] - Influence of strain relaxation on the relative orientation of ZnO and ZnMnO wurtzite lattice with respect to sapphire substrates
KA Avramenko, VP Bryksa, TL Petrenko, VP Kladko, HV Stanchu, AE Belyaev, C Deparis, J Zuñiga-Pérez and C Morhain // Materials Research Express, 2016, V.3, N9, 095902.Download: [pdf] - Високороздільна Х-променева дифрактометрія GaN і градієнтних AlGaN плівок та нанодротів
Станчу Г.В. // Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата фізико- математичних наук (доктора філософії) за спеціальністю 01.04.07 «Фізика твердого тіла».–Інститут фізики напівпровідників ім.В.Є. Лашкарьова НАН України, Київ, 2016 р.Download: [pdf] - High-resolution X-ray diffraction analysis of strain distribution in GaN nanowires on Si(111) substrate
Hryhorii Stanchu, Vasyl Kladko, Andrian V Kuchuk, Nadiia Safriuk, Alexander Belyaev, Aleksandra Wierzbicka, Marta Sobanska, Kamil Klosek and Zbigniew R Zytkiewicz // Nanoscale Research Letters, 2015, V.10: 51Download: [pdf] - Nanoscale Electro-Structural Characterization of Compositionally Graded AlxGa1-xN Heterostructures on GaN/sapphire (0001) Substrate
Andrian V. Kuchuk, Petro M. Lytvyn, Chen Li, Hryhorii V. Stanchu, Yuriy I. Mazur, Morgan E. Ware, Mourad Benamara, Renata_Ratajczak, Vitaliy Dorogan, Vasyl P. Kladko, Alexander E. Belyaev, Gregory G. Salamo // ACS Applied Materials & Interfaces, 2015, V.7, Issue 41, P.23320–23327. - Исследование плазмонных плёночных наноструктур золота методами рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии
А.И. Гудыменко, С.Б. Кривой, Г.В. Станчу, В.П. Кладько, Н.В. Сафрюк, Н.В. Слободян // Металлофизика и новейшие технологии , 2015, T.37, № 9, C.1215—1223Download: [pdf] - Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
O.Y. Gudymenko, S.B. Kryvyi, H.V. Stanchu, V.P. Kladko, N.V. Safryuk, M.V. Slobodian // Metallofizika i noveĭshie tekhnologii, 2015, V.37, Issue 9, P.1215-1223.Download: [pdf] - Роль деформационных полей в формировании многослойных структур на основе ІІІ-нитридов
В.П. Кладько, А.В. Kучук, Н.В. Сафрюк, Г.В. Станчу, A.E. Беляев // В кн.: Наноразмерные системы и наноматериалы: иcследования в Украине, Під редакцією А.Г. Наумовця, Глава 3, С.290-295; НАН України. — К.: Академперіодика, 2015, ISBN: 978-966-360-260-8Download: [pdf] - Modelling of X-Ray diffraction curves for GaN nanowires on Si(1 1 1)
V.P. Kladko, А.V. Kuchuk, H.V. Stanchu, N.V. Safriuk, A.E. Belyaev, A. Wierzbicka, M. Sobanska, K. Klosek, Z.R. Zytkiewicz // Journal of Crystal Growth, 2014, V.401. P.347-350.Download: [pdf]
