укр
eng
Гудименко Олександр - кандидат фізико-математичних наук, старший науковий співробітник
Дата та місце народження: 23 березня 1967 р., с. Лісники, Києво-Святошинський р-н., Київська обл.
Освіта:
1996-2001 Київський національний університет імені Тараса Шевченка;
Наукові ступені та звання:
2012 – Кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України
Кар’єра:
2001-2003 - інженер
2003-2011 - молодший науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова
2011-2019 - науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова
2019-дотепер - старший науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова
Кандидатська дисертація "Рентгенівська дифрактометрія приповерхневих шарів та гетероструктур на основі Si(Ge) та In(Ga)As" захищена в Спецраді ІФН 18.01.2012 р.
Публікації:
- Загальна кількість статей в реферованих журналах: 110
- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 73
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 233 (h-index = 7)
- Патенти: 3
Список публікацій:
- Structural Analysis of n-InN Heteroepitaxial Films and their Ohmic Contacts
Belyaev A.E., Boltovets N.S., Brunkov P.N., Gudymenko A.I., Jmerik V.N., Ivanov S.V., Kladko V.P., Konakova R.V., Saj P.O., Safriuk N.V., Shynkarenko V.V. // 25th Int. Crimean Conference “Microwave & Telecommunication Technology” (CriMiCo’2015), 6—12 September, 2015, Sevastopol, Crimea; P.602-604.Download: [pdf] - Ohmic contacts based on Pd to indium phosphide Gunn diodes
A.E. Belyaev, N.S. Boltovets, A.V. Bobyl, A.V. Zorenko, I.N. Arsentiev, V.P. Kladko, V.M. Kovtonyuk, R.V. Konakova, Ya.Ya. Kudryk, A.V. Sachenko, V.S. Slipokurov, A.S. Slepova, N.V. Safryuk, A.I. Gudymenko, V.V. Shynkarenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics&Optoelectronics, 2015. V.18, No3. P.317-323.Download: [pdf] - Властивості електрохромної комірки на основі WO3 та NiO: вплив іонного провідника
Т.М. Сабов, В.А. Нікірін, І.М. Хацевич, О.Й. Гудименко, В.П. Мельник, Б.М. Романюк, B.М. Телега // ФІЗИКА І ХІМІЯ ТВЕРДОГО ТІЛА, 2015, V.16, №3, С.475-480.Download: [pdf] - Исследование плазмонных плёночных наноструктур золота методами рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии
А.И. Гудыменко, С.Б. Кривой, Г.В. Станчу, В.П. Кладько, Н.В. Сафрюк, Н.В. Слободян // Металлофизика и новейшие технологии , 2015, T.37, № 9, C.1215—1223Download: [pdf] - Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
O.Y. Gudymenko, S.B. Kryvyi, H.V. Stanchu, V.P. Kladko, N.V. Safryuk, M.V. Slobodian // Metallofizika i noveĭshie tekhnologii, 2015, V.37, Issue 9, P.1215-1223.Download: [pdf] - Structural and electrical-physical properties of the ohmic contacts based on palladium to n+-nn++-n+++-InP
AE Belyaev, NA Boltovets, AB Bobyl, VP Kladko, RV Konakova, Ya Kudryk, MU Nasyrov, AV Sachenko, VS Slipokurov, AS Slepova, NV Safryuk, AI Gudymenko, VV Shynkarenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2015, V.18, No4. P.391-395.Download: [pdf] - Influence of deposition rate and substrate temperature on structure and optical features of NiO thin films
O.S. Oberemok, T.M. Sabov, I.P. Lisovskyy, I.M. Khacevich, O.Yo. Gugymenko, V.A. Nikirin, M.V. Voitovich // Functional Materials, 2015, V.23, N2, P.313-317.Download: [pdf] - Effect of stress on defect transformation in B+ and Ag+ implanted HgCdTe/CdZnTe structures
R.K. Savkina, A.B. Smirnov, A.I. Gudymenko, V.P. Kladko, F.F. Sizov, and C. Frigeri // Acta Physica Polonica A, 2014, V.125, No 4, P.1003-1005.Download: [pdf] - Photoluminescence and structural properties of CdSe quantum dot-gelatin composite films
L. Borkovska, N. Korsunska, T. Stara, O. Gudymenko, V. Kladko, O. Stroyuk, A. Raevskaya, T. Kryshtab // Physica B: Condensed Matter, 2014, V.453, P.86-91.Download: [pdf] - Stimulated oxygen impurity gettering under ultra-shallow junction formation in silicon
O. Oberemok, V. Kladko, V. Litovchenko, B. Romanyuk, V. Popov, V. Melnik, A. Sarikov, O. Gudymenko and J. Vanhellemont // Semiconductor Science and Technology, 2014, V.29, No 5, 055008(7). (cited 3 times)Download: [pdf]
