Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Станчу Григорій Вікторович

Науковий співробітник відділу №19 ІФН НАНУ

Дата та місце народження: 14 червня 1987, Чернівецька область

Освіта

2007-2011 Бакалавр фізики твердого тіла, Чернівецький національний університет;
2011-2012 Магістр фізики твердого тіла, Чернівецький національний університет;
2012-2015 Аспірант Інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України 

Наукові ступені та звання: 
2016 – Кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України

Кар’єра: 
2015- до тепер - науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України

Кандидатська дисертація "Високороздільна Х-променева дифрактометрія GaN і градієнтних AlGaN плівок та нанодротів" захищена на Спецраді ІФН 07.09.2016 р. 


Список публікацій:
[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

  1. Asymmetrical reciprocal space mapping using X-ray diffraction: a technique for structural characterization of GaN/AlN superlattices
    H.V. Stanchu, A.V. Kuchuk, M. Barchuk, Yu.I. Mazur, V.P. Kladko, Zh.M. Wang, D. Rafaja, G.J. Salamo // CrystEngComm, 2017, V19, Issue 22, P.2977-2982. DOI:10.1039/C7CE00584A

  2. Effect of strain-polarization fields on optical transitions in AlGaN/GaN multi-quantum well structures
    V. Kladko, A. Kuchuk, А. Naumov, N. Safriuk, O. Kolomys, S. Kryvyi, H. Stanchu, A. Belyaev, V. Strelchuk, B. Yavich, Yu.I. Mazur, M.E. Ware, G.J. Salamo // Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures, 2016, V.76, P.140–145.

    Download: [pdf]

  3. X-ray Reciprocal Space Mapping of Graded AlxGa1−xN Films and Nanowires
    Hryhorii V. Stanchu, Andrian V. Kuchuk, Vasyl P. Kladko, Morgan E. Ware, Yuriy I. Mazur, Zbigniew R. Zytkiewicz, Alexander E. Belyaev and Gregory J. Salamo // Nanoscale Research Letters, 2016, V.11, 81.

    Download: [pdf]

  4. The Peculiarities of Strain Relaxation in GaN/AlN Superlattices Grown on Vicinal GaN (0001) Substrate: Comparative XRD and AFM Study
    Andrian V. Kuchuk, Serhii Kryvyi, Petro M. Lytvyn, Shibin Li, Vasyl Kladko, Morgan E. Ware, Yuriy I. Mazur, Nadiia Safryuk, Hryhorii Stanchu, Alexander E. Belyaev and Gregory J. Salamo // Nanoscale Research Letters, 2016, V11, 252

    Download: [pdf]

  5. Structural properties of chalcogenide glasses As2Se3 doped with manganese
    O.P. Payuk, L.O. Revutska, A.V. Stronski, O.Yo. Gudymenko, H.V. Stanchu, A.A. Gubanova, Ts.A. Kryskov // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, 2016, V.19, N2, P.205-207.

    Download: [pdf]

  6. Influence of strain relaxation on the relative orientation of ZnO and ZnMnO wurtzite lattice with respect to sapphire substrates
    KA Avramenko, VP Bryksa, TL Petrenko, VP Kladko, HV Stanchu, AE Belyaev, C Deparis, J Zuñiga-Pérez and C Morhain // Materials Research Express, 2016, V.3, N9, 095902.

    Download: [pdf]

  7. High-resolution X-ray diffraction analysis of strain distribution in GaN nanowires on Si(111) substrate
    Hryhorii Stanchu, Vasyl Kladko, Andrian V Kuchuk, Nadiia Safriuk, Alexander Belyaev, Aleksandra Wierzbicka, Marta Sobanska, Kamil Klosek and Zbigniew R Zytkiewicz // Nanoscale Research Letters, 2015, V.10: 51

    Download: [pdf]

  8. Nanoscale Electro-Structural Characterization of Compositionally Graded AlxGa1-xN Heterostructures on GaN/sapphire (0001) Substrate
    Andrian V. Kuchuk, Petro M. Lytvyn, Chen Li, Hryhorii V. Stanchu, Yuriy I. Mazur, Morgan E. Ware, Mourad Benamara, Renata_Ratajczak, Vitaliy Dorogan, Vasyl P. Kladko, Alexander E. Belyaev, Gregory G. Salamo // ACS Applied Materials & Interfaces, 2015, V.7, Issue 41, P.23320–23327.

  9. Исследование плазмонных плёночных наноструктур золота методами рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии
    А.И. Гудыменко, С.Б. Кривой, Г.В. Станчу, В.П. Кладько, Н.В. Сафрюк, Н.В. Слободян // Металлофизика и новейшие технологии , 2015, T.37, № 9, C.1215—1223

    Download: [pdf]

  10. Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
    O.Y. Gudymenko, S.B. Kryvyi, H.V. Stanchu, V.P. Kladko, N.V. Safryuk, M.V. Slobodian // Metallofizika i noveĭshie tekhnologii, 2015, V.37, Issue 9, P.1215-1223.

    Download: [pdf]

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

 
© 2006-2017