Дата та місце народження: 24 січня 1979 р.
Освіта:
1996-2001 Чернівецький національний університет;
2002-2005 - Аспірант інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України
Наукові ступені та звання:
2006 – кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України
Кар’єра:
2005-2009 - науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України
2009-дотепер - старший науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України
Кандидатська дисертація „Структура та фізичні властивості тонкоплівкових дифузійних бар’єрів W-Ti-N та Ta-Si-N на підкладках арсеніду та нітриду галію” захищена 19.05.2006 р. у спецраді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників
Публікації:
- Загальна кількість статей в реферованих журналах: 140
- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 100
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 729 (h-index = 14)
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Google Scholar: 1138 (h-index = 18)
- Кількість монографій: 2 (див. в розділі публікації)
- Патенти: 1
Список публікацій:
- Структурные превращения в ZnS:Cu в процессе термического отжига.
Бачериков Ю.Ю., Корсунская Н.Е., Кладько В.П., Венгер Е.Ф., Баран Н.П., Кучук А.В., Жук А.Г. // Физика и Техника Полупроводников, 2012. V.46. выпуск 2. C.198-203.Download: [pdf] - Low-temperature method for thermochromic high ordered VO2 phase formation
Melnyk V.P., Khazevich I.V., Kladko V.P., Kuchuk A.V., Nikirin V.V., Romanyuk B.M. // Materials Letters, 2012, V.68. P.215-217. (cited 33 times)Download: [pdf] - Substrate effects on the strain relaxation in GaN/AlN short-period superlattices
V.P. Kladko, A.V. Kuchuk, P.M. Lytvyn, O.M. Yefanov, N.V. Safriuk, A.E. Belyaev, Yu.I. Mazur, E.A. DeCuir Jr, M.E. Ware, and G.J. Salamo // Nanoscale Research Letters 2012, 7: 289. (cited 20 times)Download: [pdf] - The Formation Mechanism of Ni-based Ohmic Contacts to 4H-n-SiC
Andrian V. Kuchuk, Vasyl P. Kladko, Krystyna Golaszewska, Marek Guziewicz, Marek Wzorek, Eliana Kaminska, and Anna Piotrowska // Material Science Forum, 2012. V.717-720, P.833-836.Download: [pdf] - Fundamentals and practice of metal contacts to wide band gap semiconductor devices
M.A. Borysiewicz, E. Kamińska, M. Myśliwiec, M. Wzorek, A. Kuchuk, A. Barcz, E. Dynowska, M.-A. di Forte-Poisson, C. Giesen, A. Piotrowska // Crystal Research and Technology, 2012, 47, (3), P.261-272.Download: [pdf] - Structural transformations in ZnS:Cu in the course of thermal annealing
Yu.Yu. Bacherikov, N.E. Korsunska, V.P. Kladko, E.F. Venger, N.P. Baran, A.V. Kuchuk, A.G. Zhuk // Semiconductors, 2012. Vol.46, Number 2, P.188-192. DOI: 10.1134/S1063782612020030Download: [pdf] - Ni-Based Ohmic Contacts to Silicon Carbide Examined by Electron Microscopy
Marek Wzorek, Andrzej Czerwiński, Andrian V. Kuchuk, Jacek Ratajczak, Anna Piotrowska, Jerzy Kątcki // Solid State Phenomena (Part B of "Diffusion and Defect Data 0377-6883")) (Electron Microscopy XIV) 2012, Vol.186, P.82-86 - Features of temperature dependence of contact resistivity in ohmic contacts on lapped n-Si
A.V. Sachenko, A.E. Belyaev, N.S. Boltovets, A.O. Vinogradov, V.P. Kladko, R.V. Konakova, Ya.Ya. Kudryk, A.V. Kuchuk, V.N. Sheremet and S. Vitusevich // Journal of Applied Physics, 2012, Vol.112 Issue 6. P.063703. (cited 5 times)Download: [pdf] - Resistance Formation Mechanisms for Contacts to III-N Heterostructures with High Dislocation Density
A.V. Sachenko, A.E. Belyaev, N.S. Boltovets, Yu.V. Zhilyaev, L.M. Kapitanchuk, V.P. Kladko, R.V. Konakova, Ya.Ya. Kudryk, A.V. Kuchuk, A.V. Naumov, V.V. Panteleev, V.N. Sheremet // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2012. V.15, No4. P.351-357.Download: [pdf] - Visible and Deep-Ultraviolet Raman Spectroscopy as a Tool for Investigation of Structural Changes and Redistribution of Carbon in Ni-Based Ohmic Contacts on Silicon Carbide
Paweł Borowicz, Adrian Kuchuk, Zbigniew Adamus, Michał Borysiewicz, Marek Ekielski, Eliana Kamińska, Anna Piotrowska, and Mariusz Latek // ISRN Nanomaterials, vol.2012, Article ID 852405, 11 pages, 2012. doi:10.5402/2012/852405Download: [pdf]