Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Кучук Андріан Володимирович
Кучук Андріан - кандидат фізико-математичних наук, старший науковий співробітник, Лауреат Премії Президента України для молодих вчених 

Дата та місце народження: 24 січня 1979 р.

Освіта:

1996-2001 Чернівецький національний університет;
2002-2005 - Аспірант інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України

Наукові ступені та звання: 
2006 – кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України

Карєра:

2005-2009 - науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України
2009-дотепер - старший науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України

Кандидатська дисертація „Структура та фізичні властивості тонкоплівкових дифузійних бар’єрів W-Ti-N та Ta-Si-N на підкладках арсеніду та нітриду галію”  захищена 19.05.2006 р. у спецраді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників

Публікації:

- Загальна кількість статей в реферованих журналах: 80 
- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 56
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 238 (h-index = 8)
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Google Scholar: 376 (h-index = 10)
- Кількість монографій: 2 (див. в розділі публікації)
- Патенти: 1

 


Список публікацій:

  1. Роль деформаційних полів у формуванні властивостей нанорозмірних структур на основі ІІІ-нітридів
    Кладько В.П., Кучук А.В., Бєляєв О.Є. // VII Українська наукова конференція з фізики напівпровідників УНКФН-7, Наукове видання. Матеріали конференції, 2016, С.21-22. Дніпропетровський національний університет імені Олеся Гончара (м. Дніпро)

    Download: [pdf]

  2. High-resolution X-ray diffraction analysis of strain distribution in GaN nanowires on Si(111) substrate
    Hryhorii Stanchu, Vasyl Kladko, Andrian V Kuchuk, Nadiia Safriuk, Alexander Belyaev, Aleksandra Wierzbicka, Marta Sobanska, Kamil Klosek and Zbigniew R Zytkiewicz // Nanoscale Research Letters, 2015, V.10: 51

    Download: [pdf]

  3. Nanoscale Electro-Structural Characterization of Compositionally Graded AlxGa1-xN Heterostructures on GaN/sapphire (0001) Substrate
    Andrian V. Kuchuk, Petro M. Lytvyn, Chen Li, Hryhorii V. Stanchu, Yuriy I. Mazur, Morgan E. Ware, Mourad Benamara, Renata_Ratajczak, Vitaliy Dorogan, Vasyl P. Kladko, Alexander E. Belyaev, Gregory G. Salamo // ACS Applied Materials & Interfaces, 2015, V.7, Issue 41, P.23320–23327.

  4. Роль деформационных полей в формировании многослойных структур на основе ІІІ-нитридов
    В.П. Кладько, А.В. Kучук, Н.В. Сафрюк, Г.В. Станчу, A.E. Беляев // В кн.: Наноразмерные системы и наноматериалы: иcследования в Украине, Під редакцією А.Г. Наумовця, Глава 3, С.290-295; НАН України. — К.: Академперіодика, 2015, ISBN: 978-966-360-260-8

    Download: [pdf]

  5. Correlation between luminescent characteristics and phase composition of ZnS:Cu powder prepared by self-propagating high temperature synthesis
    Yu. Bacherikov, A. Kuchuk, A. Zhuk, Yu. Polischuk, V. Kladko, T. Kryshtab, N. Korsunska // Journal of Luminescence, 2014, V.145, P.970-975.

    Download: [pdf]

  6. Comparative Investigation of Structural and Optical Properties of Si-Rich Oxide Films Fabricated by Magnetron Sputtering
    Larysa Khomenkova, M Baran, Oleksandr Kolomys, Victor Strelchuk, Andrian V. Kuchuk, V.P. Kladko, J Jedrzejewski, I Balberg, Y Goldstein, Philippe Marie, Fabrice Gourbilleau, N Korsunska // Advanced Materials Research, 2014. V.854; P.117-124.

    Download: [pdf]

  7. Structure and light emission of Si-rich Al2O3 and Si-rich-SiO2 nanocomposites
    L. Khomenkova, O. Kolomys, M. Baran, A. Kuchuk, V. Strelchuk, Ye. Venger, V. Kladko, J. Jedrzejewski, I. Balberg, N. Korsunska // Microelectronic Engineering, 2014, V.125, P.62-67.

    Download: [pdf]

  8. Modelling of X-Ray diffraction curves for GaN nanowires on Si(1 1 1)
    V.P. Kladko, А.V. Kuchuk, H.V. Stanchu, N.V. Safriuk, A.E. Belyaev, A. Wierzbicka, M. Sobanska, K. Klosek, Z.R. Zytkiewicz // Journal of Crystal Growth, 2014, V.401. P.347-350.

    Download: [pdf]

  9. Microstructure Characterization of Si/Ni Contact Layers on n-Type 4H-SiC by TEM and XEDS
    Marek Wzorek, Andrzej Czerwiński, Jacek Ratajczak, Michał A. Borysiewicz, Andrian V. Kuchuk, Anna Piotrowska, Jerzy Kątcki // Materials Science Forum, 2014, V.778–780, P.697-701.

  10. Nanostructured Y-doped ZrO2 powder: peculiarities of light emission under electron beam excitation
    N. Korsunska, V. Papusha, O. Kolomys, V. Strelchuk, A. Kuchuk, V. Kladko, Yu. Bacherikov, T. Konstantinova, L. Khomenkova // Physica Status Solidi (C), 2014, V.11, Issue 9-10. P.1417-1422. (cited 8 times)

    Download: [pdf]


 
© 2006-2017