Дата та місце народження: 24 січня 1979 р.
Освіта:
1996-2001 Чернівецький національний університет;
2002-2005 - Аспірант інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України
Наукові ступені та звання:
2006 – кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України
Кар’єра:
2005-2009 - науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України
2009-дотепер - старший науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України
Кандидатська дисертація „Структура та фізичні властивості тонкоплівкових дифузійних бар’єрів W-Ti-N та Ta-Si-N на підкладках арсеніду та нітриду галію” захищена 19.05.2006 р. у спецраді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників
Публікації:
- Загальна кількість статей в реферованих журналах: 140
- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 100
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 729 (h-index = 14)
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Google Scholar: 1138 (h-index = 18)
- Кількість монографій: 2 (див. в розділі публікації)
- Патенти: 1
Список публікацій:
- High-resolution X-ray diffraction analysis of strain distribution in GaN nanowires on Si(111) substrate
Hryhorii Stanchu, Vasyl Kladko, Andrian V Kuchuk, Nadiia Safriuk, Alexander Belyaev, Aleksandra Wierzbicka, Marta Sobanska, Kamil Klosek and Zbigniew R Zytkiewicz // Nanoscale Research Letters, 2015, V.10: 51Download: [pdf] - Nanoscale Electro-Structural Characterization of Compositionally Graded AlxGa1-xN Heterostructures on GaN/sapphire (0001) Substrate
Andrian V. Kuchuk, Petro M. Lytvyn, Chen Li, Hryhorii V. Stanchu, Yuriy I. Mazur, Morgan E. Ware, Mourad Benamara, Renata_Ratajczak, Vitaliy Dorogan, Vasyl P. Kladko, Alexander E. Belyaev, Gregory G. Salamo // ACS Applied Materials & Interfaces, 2015, V.7, Issue 41, P.23320–23327. - Роль деформационных полей в формировании многослойных структур на основе ІІІ-нитридов
В.П. Кладько, А.В. Kучук, Н.В. Сафрюк, Г.В. Станчу, A.E. Беляев // В кн.: Наноразмерные системы и наноматериалы: иcследования в Украине, Під редакцією А.Г. Наумовця, Глава 3, С.290-295; НАН України. — К.: Академперіодика, 2015, ISBN: 978-966-360-260-8Download: [pdf] - Correlation between luminescent characteristics and phase composition of ZnS:Cu powder prepared by self-propagating high temperature synthesis
Yu. Bacherikov, A. Kuchuk, A. Zhuk, Yu. Polischuk, V. Kladko, T. Kryshtab, N. Korsunska // Journal of Luminescence, 2014, V.145, P.970-975.Download: [pdf] - Comparative Investigation of Structural and Optical Properties of Si-Rich Oxide Films Fabricated by Magnetron Sputtering
Larysa Khomenkova, M Baran, Oleksandr Kolomys, Victor Strelchuk, Andrian V. Kuchuk, V.P. Kladko, J Jedrzejewski, I Balberg, Y Goldstein, Philippe Marie, Fabrice Gourbilleau, N Korsunska // Advanced Materials Research, 2014. V.854; P.117-124.Download: [pdf] - Structure and light emission of Si-rich Al2O3 and Si-rich-SiO2 nanocomposites
L. Khomenkova, O. Kolomys, M. Baran, A. Kuchuk, V. Strelchuk, Ye. Venger, V. Kladko, J. Jedrzejewski, I. Balberg, N. Korsunska // Microelectronic Engineering, 2014, V.125, P.62-67.Download: [pdf] - Modelling of X-Ray diffraction curves for GaN nanowires on Si(1 1 1)
V.P. Kladko, А.V. Kuchuk, H.V. Stanchu, N.V. Safriuk, A.E. Belyaev, A. Wierzbicka, M. Sobanska, K. Klosek, Z.R. Zytkiewicz // Journal of Crystal Growth, 2014, V.401. P.347-350.Download: [pdf] - Microstructure Characterization of Si/Ni Contact Layers on n-Type 4H-SiC by TEM and XEDS
Marek Wzorek, Andrzej Czerwiński, Jacek Ratajczak, Michał A. Borysiewicz, Andrian V. Kuchuk, Anna Piotrowska, Jerzy Kątcki // Materials Science Forum, 2014, V.778–780, P.697-701. - Nanostructured Y-doped ZrO2 powder: peculiarities of light emission under electron beam excitation
N. Korsunska, V. Papusha, O. Kolomys, V. Strelchuk, A. Kuchuk, V. Kladko, Yu. Bacherikov, T. Konstantinova, L. Khomenkova // Physica Status Solidi (C), 2014, V.11, Issue 9-10. P.1417-1422. (cited 8 times)Download: [pdf] - Проблеми діагностики реальних напівпровідникових кристалів
П.І. Баранський, О.Є. Бєляєв, Г.П. Гайдар, В.П. Кладько, А.В. Кучук // (Монографія), Київ, Наукова думка, – 461 с. (2014).