Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Кучук Андріан Володимирович
Кучук Андріан - кандидат фізико-математичних наук, старший науковий співробітник, Лауреат Премії Президента України для молодих вчених 

Дата та місце народження: 24 січня 1979 р.

Освіта:

1996-2001 Чернівецький національний університет;
2002-2005 - Аспірант інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України

Наукові ступені та звання: 
2006 – кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України

Карєра:

2005-2009 - науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України
2009-дотепер - старший науковий співробітник інституту фізики напівпровідників ім.В.Є.Лашкарьова НАН України

Кандидатська дисертація „Структура та фізичні властивості тонкоплівкових дифузійних бар’єрів W-Ti-N та Ta-Si-N на підкладках арсеніду та нітриду галію”  захищена 19.05.2006 р. у спецраді Д.26.199.01 Інституту фізики напівпровідників

Публікації:

- Загальна кількість статей в реферованих журналах: 80 
- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 74
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 403 (h-index = 11)
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Google Scholar: 643 (h-index = 13)
- Кількість монографій: 2 (див. в розділі публікації)
- Патенти: 1

 


Список публікацій:

  1. Effect of p–n Junction Over-heating on Degradation of Silicon High–Power Pulsed IMPATT Diodes.
    A.E. Belyaev, V.V. Basanets, N.S. Boltovets, A.V. Zorenko, L.M. Kapitanchuk, V.P. Kladko, R.V. Konakova, N.V. Kolesnik, T.V. Korostinskaya, T.V. Kritskaya, Ya.Ya. Kudryk, A.V. Kuchuk, V.V. Milenin, and A.B. Ataubaeva // Semiconductors, 2011, V.45, No 2, P.253-259. (cited 8 times)

    Download: [pdf]

  2. Evolution of the Deformation State and Composition as a Result of Changes in the Number of Quantum Wells in Multilayered InGaN/GaN Structures
    V.P. Kladko, A.V. Kuchuk, N.V. Safryuk, V.F. Machulin, A.E. Belyaev, R.V. Konakova, B.S. Yavich, B.Ya. Ber, and D.Yu. Kazantsev // Semiconductors, 2011, Vol.45, No.6, p.753–760. (cited 2 times)

    Download: [pdf]

  3. Thermochromic Properties of Vanadium Dioxide Films Obtained by Magnetron Sputtering
    Melnik V.P., Khatsevych I.M., Goltvyanskyi Yu.V., Nikirin V.A., Romanyuk B.M., Popov V.G., Klad'ko V.P., Kuchuk A.V. // Ukrainian Journal of Physics 2011, Vol.56, N 6, p.534-540

    Download: [pdf]

  4. TEM characterisation of suicide phase formation in Ni-based ohmic contacts to 4H n-SiC
    Wzorek M., Czerwinski A., Kuchuk A., Ratajczak J., Piotrowska A., Katcki J.  // Materials Transactions 2011, 52. (3), P.315-318.

  5. Measurements of precision value of ohmic contact resistance to n-SiC by c-TLM method
    K. Golaszewska-Malec, J. Kiszkurno, A. Kuchuk, W. Jung, M. Guziewicz, E. Kaminska, A. Piotrowska. // Elektronika – 2011. Vol.LII (9), P.98-102.

  6. Electron microscopy study of nickel-based ohmic contacts to silicon carbide
    M. Wzorek, A. Czerwiński, A. Kuchuk, J. Ratajczak, A. Piotrowska, J. Kątcki. // Elektronika – 2011. Vol.LII (9), P.37-40.

  7. Structural studies of carbon films in nickel-based ohmic contacts with the visible and ultraviolet Raman spectroscopy
    P. Borowicz, A. Kuchuk, Z. Adamus, M. Borysiewicz, M. Ekielski, E. Kamińska, A. Piotrowska, M. Latek // Elektronika – 2011. Vol.LII (9), P.103-106.

  8. X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
    Kladko V.P., Kuchuk A.V., Safryuk N.V., Machulin V.F., Belyaev A.E., Konakova R.V., Yavich B.S. // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2010. V.13, No1. P.1-7. (cited 3 times)

    Download: [pdf]

  9. Reliability Tests of Au-metallized Ni-based Ohmic Contacts to 4H-n-SiC with and without Nanocomposite Diffusion Barriers.
    Kuchuk A.V., Guziewicz M., Ratajczak R., Wzorek M., Kladko V.P., Piotrowska A.  // Materials Science Forum, 2010. V.645-648 (Silicon Carbide and Related Materials 2009). P.737-740. (cited 3 times)

    Download: [pdf]

  10. The features of temperature dependence of contact resistivity of Au-Ti-Pd2Si-p+-Si ohmic contacts
    A.E. Belyaev, N.S. Boltovets, L.M. Kapitanchuk, R.V. Konakova, V.P. Kladko, Ya.Ya. Kudryk, A.V. Kuchuk, O.S. Lytvyn, V.V. Milenin, T.V. Korostinskaya, A.B. Ataubaeva, P.V. Nevolin // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2010. V.13, No1. P.8-11.

    Download: [pdf]


 
© 2006-2018