укр
eng
:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 :: 2019 :: 2020 :: 2021 :: 2022 ::
- Рентгенодифрактометрический контроль структурного совершенства монокристаллических пластин.
Крыштаб Т.Г., Кладько В.П., Фомин А.В. // Заводская лаборатория. 1991, Т.57, №6. С.36-38Download: [pdf] - Влияние метода утонения подложек на распределение деформационных полей в эпитаксиальных GaAs структурах.
Кладько В.П., Крыштаб Т.Г., Семенова Г.Н., Хазан Л.С., Башевская О.С. // Физика Твердого Тела, 1991, Т.33, №11. С.3192-3198. (cited 6 times)Download: [pdf]
