Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Публiкацiї вiддiлу
Статті
Кількість статей на одній сторінці:    

:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 ::

  1. Рентгенодифрактометрический контроль структурного совершенства монокристаллических пластин.
    Крыштаб Т.Г., Кладько В.П., Фомин А.В.  // Заводская лаборатория. 1991, Т.57, №6. С.36-38

    Download: [pdf]

  2. Влияние метода утонения подложек на распределение деформационных полей в эпитаксиальных GaAs структурах.
    Кладько В.П., Крыштаб Т.Г., Семенова Г.Н., Хазан Л.С., Башевская О.С.  // Физика Твердого Тела, 1991, Т.33, №11. С.3192-3198. (cited 6 times)

    Download: [pdf]


 
© 2006-2018