Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Публiкацiї вiддiлу

ДИСЕРТАЦІЇ :: КНИГИ :: СТАТТІ

 

Статті
Кількість статей на одній сторінці:    

:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 :: 2019 :: 2020 :: 2021 :: 2022 ::

[<< попередня] ----- 1 2 3 ----- [наступна >>]

  1. RF plasma treatment of shallow ion-implanted layers of germanium
    P.N. Okholin, V.I. Glotov, A.N. Nazarov, V.O. Yuchymchuk, V.P. Kladko, S.B. Kryvyi, P.M. Lytvyn, S.I. Tiagulskyi, V.S. Lysenko, M. Shayesteh, R. Duffy // Materials Science in Semiconductor Processing, 2016, V.42, Part 2, P.204-209.

    Download: [pdf]

  2. Effect of strain-polarization fields on optical transitions in AlGaN/GaN multi-quantum well structures
    V. Kladko, A. Kuchuk, А. Naumov, N. Safriuk, O. Kolomys, S. Kryvyi, H. Stanchu, A. Belyaev, V. Strelchuk, B. Yavich, Yu.I. Mazur, M.E. Ware, G.J. Salamo // Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures, 2016, V.76, P.140–145.

    Download: [pdf]

  3. Structural and optical study of strain relaxation in Ge1-xSnx layers grown on Ge/Si(001) by molecular beam epitaxy
    A.S. Nikolenko, V.V. Strelchuk, N.V. Safriuk, S.B. Kryvyi, V.P. Kladko, O.S. Oberemok, L.V. Borkovska, Yu.G. Sadofyev. // Thin Solid Films, 2016, V.613, P.68-74.

    Download: [pdf]

  4. Физико-технологические проблемы нитрид-галлиевой электроники
    Беляев А.Е., Бессолов В.Н., Болтовец Н.С., Жиляев Ю.В., Кладько В.П., Конакова Р.В., Кучук А.В., Саченко А.В., Шеремет В.Н. // Монографія, Київ, „Наукова думка” 2016, 260 с.

  5. X-ray Reciprocal Space Mapping of Graded AlxGa1−xN Films and Nanowires
    Hryhorii V. Stanchu, Andrian V. Kuchuk, Vasyl P. Kladko, Morgan E. Ware, Yuriy I. Mazur, Zbigniew R. Zytkiewicz, Alexander E. Belyaev and Gregory J. Salamo // Nanoscale Research Letters, 2016, V.11, 81.

    Download: [pdf]

  6. Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
    V.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, E.G. Len, Ye.M. Kyslovskyy, O.V. Reshetnyk, T.P. Vladimirova, B.V. Sheludchenko, E.S. Skakunova, V.V. Lizunov, E.V. Kochelab, I.M. Fodchuk, and V.P. Kladko // Metallofizika i Noveishie Tekhnologii, 2016, V.38, No 1, P.99-138.

    Download: [pdf]

  7. Surface Plasmon’s Dispersion Properties of Porous Gold Films
    M.O. Stetsenko, L.S. Maksimenko, S.P. Rudenko, I.M. Krishchenko, A.A. Korchovyi, S.B. Kryvyi, E.B. Kaganovich and B.K. Serdega // Nanoscale Research Letters, 2016, V.11:116

    Download: [pdf]

  8. Ni-Based Ohmic Contacts to n-Type 4H-SiC: The Formation Mechanism and Thermal Stability
    A.V. Kuchuk, P. Borowicz, M. Wzorek, M. Borysiewicz, R. Ratajczak, K. Golaszewska, E. Kaminska, V. Kladko, and A. Piotrowska // Advances in Condensed Matter Physics, Volume 2016 (2016), Article ID 9273702, 26 pages. http://dx.doi.org/10.1155/2016/9273702

    Download: [pdf]

  9. Silicon Substrate Strained and Structured via Cavitation Effect for Photovoltaic and Biomedical Application
    Rada K. Savkina, Aleksandr I. Gudymenko, Vasyl P. Kladko, Andrii A. Korchovyi, Andrii S. Nikolenko, Aleksey B. Smirnov, Tatyana R. Stara and Viktor V. Strelchuk // Nanoscale Research Letters, 2016, V.11:183

    Download: [pdf]

  10. Formation of Nanoporous Anodic Alumina by Anodization of Aluminum Films on Glass Substrates
    Tetyana Lebyedyeva, Serhii Kryvyi, Petro Lytvyn, Mykola Skoryk and Pavlo Shpylovyy // Nanoscale Research Letters, 2016, V.11, 203.

    Download: [pdf]

[<< попередня] ----- 1 2 3 ----- [наступна >>]


 
© 2006-2024