укр
eng
:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 :: 2019 :: 2020 :: 2021 :: 2022 ::
- Исследование типа доминирующих микродефектов в “бездислокационном” теллуриде кадмия.
Гуреев А.Н., Кладько В.П. Даценко Л.И., Скороход М.Я. // Український Фізичний Журнал, 1986. Т.31, №1 С.101-104Download: [pdf] - Интегральные характеристики структурного совершенства монокристаллов, содержащих ростовые "декорированные" дислокации.
Даценко Л.И., Хрупа В.И., Кладько В.П., Николаев В.В. // В кн.: ”Свойства и структура дислокаций в полупроводниках”. М.:1986. C.87-89. - Простой рентгенодифракционный метод контроля глубины нарушенного слоя в реальных кристаллах.
Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Когут И.В. // Ред. журн. ”Элект. техника”, 1986. 6 с. Деп. в ЦНИИ “Электроника” – №4225. - Способ контроля структурного совершенства монокристаллов
Даценко Л.И., Гуреев А.Н., Хрупа В.И., Кисловский Е.Н., Кладько В.П,, Низкова А.И., Прокопенко И.В., Скороход М.Я. // Авторське свідоцтво на винахід №1255906
