Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Публiкацiї вiддiлу
Статті
Кількість статей на одній сторінці:    

:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 ::

[<< попередня] ----- 1 2 3 ----- [наступна >>]

  1. Mechanism of strain relaxation by twisted nanocolumns revealed in AlGaN/GaN heterostructures.
    V.P. Kladko, A.V. Kuchuk, N.V. Safryuk, V.F. Machulin, A.E. Belyaev, H.Hardtdegen and S.A. Vitusievich // Applied Physics Letters. 2009. V.95, Issue 3. P.031907(3). DOI: 10.1063/1.3184569 (Cited 18 times)

    Download: [pdf]

  2. On the Formation of Ni-based Ohmic Contacts to n-type 4H-SiC
    A.V. Kuchuk, V.P. Kladko, A. Piotrowska, R. Ratajczak, R. Jakiela // Materials Science Forum 2009. V.615-617. Р.573-576. (cited 10 times)

    Download: [pdf]

  3. Thermal degradation of Au/Ni2Si/n-SiC ohmic contacts under different conditions.
    A.V. Kuchuk, M. Guziewicz, R. Ratajczak, M. Wzorek, V.P. Kladko, A. Piotrowska.  // Materials Science and Engineering – B 2009. V.165, Issue 1-2. P.38-41. (cited 6 times)

    Download: [pdf]

  4. Internal strains and crystal structure of the layers in AlGaN/GaN heterostructures grown on sapphire substrate
    Kladko V.P., Kolomys O.F., Slobodian M.V., Strelchuk V.V., Raycheva V.G., Belyaev O.Ye., Bukalov S.S., Hardtdegen H., Sydoruk V.A., Klein N. and Vitusevich S.A.  // Journal of Applied Physics, 2009. V.105. Issue 6. P.063515(9). DOI: 10.1063/1.3094022 (Cited 29 times)

    Download: [pdf]

  5. Three-dimensional ordering in self‐organized (In,Ga)As quantum dot multilayer structures
    V.P. Kladko, М.V. Slobodian, P.M. Lytvyn, V.V. Strelchuk, Yu.I. Mazur, E. Marega, M. Hussein and G.J. Salamo // Phys. Stat. Solidi (a), 2009. V.206. No 8. P.1748-1751. DOI 10.1002/pssa.200881593 (Cited 6 times)

    Download: [pdf]

  6. Межфазные взаимодействия и механизм токопереноса в омических контактах Au-TiBx-AuGe-n-GаP
    Беляев А.Е., Болтовец Н.С., Иванов В.Н., Камалов А.Б., Капитанчук Л.М., Кладько В.П., Конакова Р.В., Кудрик Я.Я., Миленин В.В., Насыров М.У., Неволин П.В.  // Физика и Техника Полупроводников, 2009, Т.43, вып.11. C.1468-1472.

    Download: [pdf]

  7. Sensitivity of triple-crystal X-ray diffractometers to microdefects in silicon
    V.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, E.G. Len, E.N. Kislovskii, V.P. Kladko, O.V. Reshetnyk, T.P. Vladimirova, B.V. Sheludchenko // Phys. Stat. Sol.(A), 2009. V.206. N8, p.1761-1765. DOI: 10.1002/pssa.200881588 (Cited 19 times)

    Download: [pdf]

  8. Свойства контактов GaN(SiC)-(Ti,Zr)Bx, подвергнутых быстрым термоотжигам.
    А.Е. Беляев, Н.С. Болтовец, В.Н. Иванов, Р.В. Конакова, В.П. Кладько, Я.Я. Кудрик, А.А. Лебедев, В.В. Миленин, В.Н. Шеремет  // Физика и Техника Полупроводников. 2009. Т.43. вып.8. с.1125-1130.

    Download: [pdf]

  9. Вплив дислокаційної структури на деформаційні процеси в AlGaN/GaN/(0001)Al2O3 (Influence of Dislocation Structure on Deformation Processes in AlGaN/GaN/(0001)Al2O3 Heterostructures)
    Кладько В.П., Сафрюк Н.В., Кучук А.В., Бєляєв О.Є., Мачулін В.Ф. // Український Фізичний Журнал, 2009, Т.54, №10. С.1014-1020. Ukrainian Journal of Physics 2009, Vol.54, 10, p.1014-1020. (Cited 6 times)

    Download: [pdf]

  10. Дифракційна характеризація мікродефектної структури ізохронно відпалених кристалів кремнію
    В.Б. Молодкін, В.П. Кладько, С.Й. Оліховський, Є.М. Кисловський, Т.П. Владімірова, Є.В. Кочелаб, Р.Ф. Середенко, М.В. Слободян, О.В. Решетник // Металофізика і новітні технології, 2009. Т.31, №9. С.1205-1222. (Cited 2 times)

    Download: [pdf]

[<< попередня] ----- 1 2 3 ----- [наступна >>]


 
© 2006-2018