Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Публiкацiї вiддiлу
Статті
Кількість статей на одній сторінці:    

:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 ::

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

  1. Study of strain relaxation in CdSe/ZnSe nanostructures
    L. Borkovska, R. Beyer, O. Gudymenko, V. Kladko, N. Korsunska, T. Kryshtab, Yu. Sadofyev, Ye. Venger // Journal of Crystal Growth, 2005, 275, Issues 1-2. e2281-e2287. (cited 2 times)

    Download: [pdf]

  2. Effect of Nitrogen in Ta—Si—N Thin Films on Properties and Diffusion Barrier Performances
    A.V. Kuchuk, V.P. Kladko, V.F. Machulin, O.S. Lytvyn, А.А. Коrchovyi, A. Piotrowska, R.A. Minikayev, and R. Jakiela // Металлофизика и новейшие технологии. / Metallofiz. Noveishie Tekhnol. 2005, т. 27, № 5, сс. 625—634

    Download: [pdf]

  3. Experimental and theoretical study of the influence of growth temperature on composition in self-assembled SiGe QD’s
    A.M. Yaremko, V.O. Yukhymchuk, M.Ya. Valakh, A.V. Novikov, V.P. Melnik, O.S. Lytvyn, D.N. Lobanov, Z.F. Krasil’nik, V.P. Kladko, V.M. Dzhagan // Materials Science and Engineering C 25 (2005) P.565–569. (cited 2 times)

    Download: [pdf]

  4. Enhanced relaxation of SiGe layers by He implantation supported byin situ ultrasonic treatments
    B. Romanjuk, V. Kladko, V. Melnik, V. Popov, V. Yukhymchuk, A. Gudymenko, Ya. Olikh, G. Weidner, D. Kruger // Materials Science in Semiconductor Processing V.8 (2005) 171–175. (cited 5 times)

    Download: [pdf]

  5. Screen-printed p-CdTe layers for CdS/CdTe solar cells
    V.P. Klad’ko, P.M. Lytvyn, N.M. Osipyonok, G.S. Pekar, I.V. Prokopenko, A.F. Singaevsky // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005. V. 8, N 2. P. 61-65.

    Download: [pdf]

  6. Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
    V.V. Strelchuk, V.P. Kladko, O.M. Yefanov, O.F. Kolomys, O.I. Gudymenko, M.Ya. Valakh, Yu.I. Mazur, Z.M. Wang, and G.J. Salamo // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005. V. 8, N 1. P. 36-45. (Cited 7 times)

    Download: [pdf]

  7. Manifestation of spatial ordering of quantum dots in multilayered SiGe nanostructures in X-Ray diffraction patterns
    V.P. Kladko, V.F. Machulin, O.M. Yefanov, V.A. Yukchimchuk, O.I. Gudymenko, P.P. Kogutyuk, A.V. Shalimov // Ukr. J. Phys. 2005. V. 50, N 9

    Download: [pdf]

  8. Прояв просторового упорядкування квантових острівців у багатошарових наноструктурах SiGe у рентгенівській дифракції
    В.П. Кладько, В.Ф. Мачулін, О.М. Єфанов, В.О. Юхимчук, О.Й. Гудименко, П.П. Когутюк, А.В. Шалімов // Український фізичний журнал 2005. Т. 50, № 9

    Download: [pdf]

  9. Електролюмінесцентний сенсор рентгенівського випромінювання
    Власенко Н.А., Олексенко П.Ф., Велігура Л.І., Денисова З.Л., Кононець Я.Ф., Кладько В.П., Циркунов Ю.А., Горонескуль В.Ю. // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. 2005, вып.40, C.113-119.

  10. Thermally stable Ru-Si-O gate electrode for AlGaN/GaN HEMT
    E. Kaminska, A. Piotrowska, A. Szczesny,A. Kuchuk, R. Lukasiewicz, K. Golaszewska, R. Kruszka, A. Barcz, R. Jakiela, E. Dynowska, A. Stonert, A. Turos // Phys. Stat. Sol. (c), Vol. 2, No. 3, P. 1060– 1064 (2005)

    Download: [pdf]

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]


 
© 2006-2018