Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Публiкацiї вiддiлу
Статті
Кількість статей на одній сторінці:    

:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 ::

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

  1. X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
    Kladko V.P., Kuchuk A.V., Safryuk N.V., Machulin V.F., Belyaev A.E., Konakova R.V., Yavich B.S. // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2010. V.13, No1. P.1-7. (cited 3 times)

    Download: [pdf]

  2. Рентгеновская дифрактометрия и сканирующая микро-рамановская спектроскопия неоднородностей структуры и деформаций по глубине многослойной гетероструктуры InGaN/GaN
    Стрельчук В.В., Кладько В.П., Авраменко К.А., Коломыс А.Ф., Сафрюк Н.В., Конакова Р.В., Явич Б.С., Валах М.Я., Мачулин В.Ф., , Беляев А.Е.  // Физика и техника полупроводников, 2010. T.44. вып.9. C.1236-1247. (cited 6 times)

    Download: [pdf]

  3. Study of the mechanisms of oxygen precipitation in RTA annealed Cz-Si wafers
    V. Litovchenko, I. Lisovskyy, M. Voitovych, A. Sarikov, S. Zlobin, V. Kladko, V. Machulin  // Solid State Phenomena. 2010. V.156-158, P.279-282. (cited 1 times)

    Download: [pdf]

  4. Reliability Tests of Au-metallized Ni-based Ohmic Contacts to 4H-n-SiC with and without Nanocomposite Diffusion Barriers.
    Kuchuk A.V., Guziewicz M., Ratajczak R., Wzorek M., Kladko V.P., Piotrowska A.  // Materials Science Forum, 2010. V.645-648 (Silicon Carbide and Related Materials 2009). P.737-740. (cited 3 times)

    Download: [pdf]

  5. The features of temperature dependence of contact resistivity of Au-Ti-Pd2Si-p+-Si ohmic contacts
    A.E. Belyaev, N.S. Boltovets, L.M. Kapitanchuk, R.V. Konakova, V.P. Kladko, Ya.Ya. Kudryk, A.V. Kuchuk, O.S. Lytvyn, V.V. Milenin, T.V. Korostinskaya, A.B. Ataubaeva, P.V. Nevolin // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2010. V.13, No1. P.8-11.

    Download: [pdf]

  6. Радиационные эффекты и межфазные взаимодействия в омических и барьерных контактах к фосфиду индия, стимулированные быстрыми термическими обработками и облучением γ-квантами 60Со
    А.Е. Беляев, Н.С. Болтовец, А.В. Бобыль, В.Н. Иванов, Л.М. Капитанчук, В.П. Кладько, Р.В. Конакова, Я.Я. Кудрик, А.А. Корчевой, О.С. Литвин, В.В. Миленин, С.В. Новицкий, В.Н. Шеремет  // Физика и Техника Полупроводников, 2010, Т.44, No12. P.1607-1614.

    Download: [pdf]

  7. Structural changes in Cz-Si single-crystal irradiated by high-energy electron from high-resolution X-ray diffractometry
    І.М. Fodchuk, V.V. Dovganyuk, Т.V. Litvinchuk, V.P. Kladko, М.V. Slobodian, O.Yo. Gudymenko, Z. Swiatek // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2010. V. 13, N 2. P. 209-213.

    Download: [pdf]

  8. Coherent diffractive imaging of biological samples at synchrotron and free electron laser facilities
    Mancuso A.P., Yefanov O.M., Vartanyants I.A. // Journal of Biotechnology, 2010 149 (4), pp. 229-237.

  9. Coherent imaging of biological samples with femtosecond pulses at the free-electron laser FLASH
    Mancuso A.P., Gorniak Th., Staier F., Yefanov O.M., Barth R., Christophis C., Reime B., (...), Vartanyants I.A. // New Journal of Physics 2010, 12, art. no. 035003

  10. Радиационные эффекты в омических и барьерных контактах к фосфиду индия, содержащих поликристаллические и аморфные диффузионные барьеры
    Беляев А.Е., Болтовец Н.С., Бобыль А.В., Иванов В.Н., Капитанчук Л.М., Кладько В.П., Конакова Р.В., Кудрик Я.Я., Литвин О.С., Миленин В.В., Новицкий С.В., Шеремет В.Н. // Труды ХХ Международного совещания \"Радиационная физика твердого тела\", Севастополь, 2010, Том 1, С.222-231.

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]


 
© 2006-2018