Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Публiкацiї вiддiлу

ДИСЕРТАЦІЇ :: КНИГИ :: СТАТТІ

 

Статті
Кількість статей на одній сторінці:    

:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 :: 2019 :: 2020 :: 2021 :: 2022 ::

  1. Рассеяние рентгеновских лучей вблизи К-краев поглощения в тонких монокристаллах бинарных полупроводников.
    Даценко Л.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Хрупа В.И.  // Кристаллография, 1984, Т.29,№6, С.1066-1070.

    Download: [pdf]

  2. Изучение динамических искажений подрешеток In и Sb в антимониде индия при дифракции рентгеновских лучей вблизи K-края поглощения компонентов.
    Молодкин В.Б., Кладько В.П., Гуреев А.Н., Гудзенко Г.И., Даценко Л.И.  // Металлофизика, 1984, Т.6, №5, С.103-106.

    Download: [pdf]

  3. Рентгенодифрактометрические исследования структурного совершенства сильнопоглощающих кристаллов.
    Даценко Л.И., Крыштаб Т.Г., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Хрупа В.И.  // Український Фізичний Журнал, 1984, Т.29, №5. С.743-747

    Download: [pdf]

  4. Интегральные характеристики структурного совершенства, определяемые из экспериментов по лауэ-дифракции в тонком кристалле.
    Даценко Л.И., Молодкин В.Б., Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Хрупа В.И.  // В сб.: ”Дефекты структуры в полупроводниках” Новосибирск, 1984. C.102-105.


 
© 2006-2024