Вiддiл дифракцiйних дослiджень структури напiвпровiдникiв

Статті

:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 ::

Контроль толщины нарушенных слоев, образующихся при резке и шлифовке несовершенных кристаллов.
Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Фомин А.В., Хрупа В.И. // Заводская лаборатория, 1985, Т.51, №7, С.30-31

Download: [pdf]