Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Публiкацiї вiддiлу
Статті
Кількість статей на одній сторінці:    

:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 ::

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

  1. Излучение, связанное с протяженными дефектами в эпитаксиальных слоях ZnTe/GaAs и многослойных структурах
    Е.Ф. Венгер, Ю.Г. Садофьев, Г.Н. Семенова, Н.Е. Корсунская, В.П. Кладько, М.П. Семцив, Л.В. Борковская // Физика и техника полупроводников, 2000, T.34, вып. 1

    Download: [pdf]

  2. Emission Associated with Extended Defects in Epitaxial ZnTe/GaAs Layers and Multilayer Structures
    E.F. Venger, Yu.G. Sadof'ev, G.N. Semenova, N.E. Korsunskaya, V.P. Kladko, M.P. Semtsiv, and L.V. Borkovskaya // Semiconductors, 2000, Vol. 34, No.1, p.11–16.

    Download: [pdf]

  3. Structural and composition irregularities in GaAs:Si/GaAs films grown by liquid-phase epitaxy
    V.P. Kladko, L.I. Datsenko, Z.V. Maksimenko, O.S. Lytvyn, I.V. Prokopenko, Z. Zytkiewicz // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2000. V.3, N.3, P.343-348

    Download: [pdf]

  4. Dynamical scattering of X-ray by real binary crystals and problem of point defects.
    Datsenko L.I., Kladko V.P., Machulin V.F., Manninen S., Prokopenko I.V.  // “Theory and computation for synchrotron radiation spectroscopy”, AIP Conf. Proc, 514 (1) 2000, P.153-161.

    Download: [pdf]

  5. Топология маятниковых колебаний интенсивности в кристаллах с планарными дефектами в случае брэгг-дифракции.
    Григорьев Д.О., Даценко Л.И., Кладько В.П., Крыштаб Т.Г., Мачулин В.Ф., Прокопенко И.В., Мельник В.М.  // Металлофизика и новейшие технологии. 2000. Т.22, №2. С.58-65.

    Download: [pdf]

  6. Влияние кулоновских дефектов и нестехиометрии в GaAs на энергетическую зависимость характеристик динамической брэгг-дифракции рентгеновских лучей.
    Кладько В.П., Олиховский С.И., Даценко Л.И.  // Металлофизика и новейшие технологии, 2000, Т.22, №6. C.20-27.

    Download: [pdf]

  7. Laue Diffraction of X-rays in GaAs at the Zero Value of the Real Part of the Structure Factor for Quasiforbidden Reflections
    L.I. Datsenko, V.P. Kladko  // Crystallogr. Rep. V.45, 705 (2000). Cited 1 time

    Download: [pdf]

  8. Динамические эффекты при дифракции рентгеновских лучей для квазизапрещенных отражений в бинарных кристаллах с сильноотличающимися атомными форм-факторами.
    Кладько В.П., Даценко Л.И., Мачулин В.Ф., Мельник В.М.  // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2000, №10, С.3-8.

    Download: [pdf]

  9. Lateral and depth inhomogeneities in Zn-based heterostructures grown on GaAs by MBE.
    E.F. Venger, Yu.G. Sadof'ev, G.N. Semenova, N.E. Korsunskaya, V.P. Kladko, L.V. Shechovtsov, M.P. Semtsiv, L.V. Borkovskaya and S.Yu. Sapko // Thin Solid Films. 2000, V.367, Issue 1. P.184-188.

    Download: [pdf]

  10. Energy-dispersive studies of the integrated reflectivity of Bragg diffracted continuous X-ray spectrum for high sensitive structure diagnostics of imperfect single crystal.
    Grigoriev D.O., Manninen S., Datsenko L.I., Khrupa V.I., Molodkin V.B., Galamboshi S., Kladko V.P., Machulin V.F., // Metal. Phys. and Adv. Technology. 2000, V.22, №5. С.32-40.

    Download: [pdf]

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]


 
© 2006-2018