Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Публiкацiї вiддiлу
ДИСЕРТАЦІЇ :: КНИГИ :: СТАТТІ
Статті
Кількість статей на одній сторінці:    

:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 :: 2019 :: 2020 ::

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]

  1. Electronic and Structural Properties of Si-Gd-O Electron Emitter
    M.I. Fedorchenko, P.V. Melnik, M.G. Nakhodkin, O.I. Gudymenko, V.P. Kladko, P.M. Lytvyn // Surface Review and Letters, 2020, V.27, No.01, 1950089.

  2. Modification of elastic deformations and analysis of structural and optical changes in Ar+-implanted AlN/GaN superlattices
    Oleksii Liubchenko, Tomash Sabov, Vasyl Kladko, Viktor Melnik, Volodymyr Yukhymchuk, Borys Romanyuk, Oleksandr Kolomys, Oleksandr Hreshchuk, Oleksandr Dubikovskyi, Zoia Maksimenko, Oleksandr Gudymenko, Alexander Belyaev // Applied Nanoscience, 2020, V.10, https://doi.org/10.1007/s13204-019-01000-w

  3. Transformations in the photoluminescent, electrical and structural properties of Tb3+ and Eu3+ co-doped ZnO films under high-temperature annealing
    N. Korsunska, L. Borkovska, L. Khomenkova, O. Gudymenko, V. Kladko, O. Kolomys, V. Strelchuk, Z. Tsybrii, C. Guillaume, C. Labbe, X. Portier, O. Melnichuk, L. Melnichuk  // Journal of Luminescence, 2020, V.217, Article 116739.

    Download: [pdf]

  4. The elemental composition mixing in a Mo/Si multilayer structure under overheating
    O. Oberemok, T. Sabov, O. Dubikovskyi, O. Kosulya, V. Melnik, B. Romanyuk, V. Popov, O. Liubchenko, V. Kladko, E. Zubarev, Y. Pershyn // Materials Today: Proceedings, 2020, V.19, in press, https://doi.org/10.1016/j.matpr.2019.11.018

    Download: [pdf]

  5. Кластеризация марганца в ZnS:Mn, Mg, полученного методом высокотемпературного самораспространяющегося синтеза
    Ю.Ю. Бачериков, И.П. Ворона, О.Б. Охрименко, В.П. Кладько, А.Г. Жук, С.М. Окулов, Ю.О. Полищук, А.В. Гильчук, Ю.М. Романенко, В.В. Кидалов // Физика и техника полупроводников, 2020, V.54, Вып.3., С.259-265.

    Download: [pdf]

  6. Defect and magnetic structure of Y2.93La0.07Fe5O12/Gd3Ga5O12 epitaxial systems
    Ihor Fodchuk; Ivan Hutsuliak; Volodymyr Dovganyuk; Oleksandr Sumariuk; Oleksandr Gudymenko; Vasyl Kladko; Ivan Syvorotka; Andrii Kotsyubynskiy; Michael Barchuk // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, Vol.11369, P.113691G.

    Download: [pdf]

  7. Defect structure of high-resistivity CdTe:Cl crystals according to the data of high-resolution x-ray diffractometry
    I. Fodchuk; A. Kuzmin; I. Hutsuliak; M. Solodkyi; V. Dovganyuk; O. Maslyanchuk; Yu. Roman; R. Zaplitnyy; O. Gudymenko; V. Kladko; V. Mоlоdkin; V. Lizunov // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, Vol.11369, P.113691H.

  8. Investigation of the Structural and Optical Properties of Compositionally V-Graded Strained InxGa1-xN Layers
    Pijush K Ghosh, Hryhorii Stanchu, Yurii Maidaniuk, Mirsaeid Sarollahi, Manal Aldawsari, Andrian Kuchuk, Yuriy Mazur, Gregory J Salamo, Morgan E Ware // Physica Status Solidi B-basic Solid State Physics, 2020, In press

  9. Compositionally Graded AlGaN Nanostructures: the Strain Distribution and X-ray Diffraction Reciprocal Space Mapping
    H Stanchu, M Auf der Maur, AV Kuchuk, Yu I Mazur, M Sobanska, ZR Zytkiewicz, S Wu, Z Wang, G Salamo // Crystal Growth & Design, 2020, V.

  10. The role of excess MgO in the intensity increase of red emission of Mn4+-activated Mg2TiO4 phosphors
    L. Borkovska, L. Khomenkova, I. Vorona, V. Nosenko, T. Stara, O. Gudymenko, V. Kladko, C. Labbé, J. Cardin, A. Kryvko, T. Kryshtab // Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 2020, V.31, Issue 10, P.7555–7564.

[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]


 
© 2006-2020