укр
eng
Васи́ль Петро́вич Кладько́ Член-кореспондент НАН України, доктор фізико-математичних наук, професор, Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки 2007 р., Лауреат Премії імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2017 р.
Дата та місце народження: 12 січня 1957 р. у с. Озеро, Володимирецький район, Рівненська область.
Освіта:
1964—1974 — Озерська середня школа (золота медаль); 1974—1979 — студент Чернівецького Державного Університету, фізичний факультет (з відзнакою); 1982—1985 — аспірант Інституту Напівпровідників АН УРСР. 1998—2000 — докторант Інституту Фізики Напівпровідників НАН України.
Наукові ступені та
звання:
Кар’єра:
1974—1979 — Студент фізичного факультету Чернівецького державного університету; 1979—1982 — Інженер кафедри напівпровідникової мікроелектроніки фізичного факультету Чернівецького державного університету; 1982—1985 — Аспірант Інституту Напівпровідників; 1985—1988 — Молодший науковий співробітник; 1988—2000 — Старший науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників; 2000—2004 — Провідний науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників; 2004 дотепер — завідувач відділу «Структурного і елементного аналізу матеріалів та систем» Інституту Фізики Напівпровідників НАН, Київ, Україна ; 2013 дотепер — заступник директора Інституту Фізики Напівпровідників НАНУ з наукової роботи, Київ, Україна.Наукова діяльність
головний напрям: рентгенооптика і високороздільна Х-променева дифрактометрія, фізика твердого тіла і реальна структура кристалічних матеріалів; інші напрями: фізика напівпровідників, дифракція в області аномальної дисперсії рентгенівських променів; поточний дослідницький інтерес: квазізаборонені відбиття і стехіометрія, багатошарові структури з квантовими ямами і точками, фізика і реальна структура ІІІ-нітридних сполук, високороздільна Х-променева дифрактометрія деформаційних і релаксаційних процесів.Стажування за кордоном Університет м. Гельсінкі (Фінляндія), 2000 р. (2 місяці)
Нагороди, Членство в Товариствах
Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки 2007 р.; Лауреат Премії імені В.Є. Лашкарьова НАН України (За видатні роботи в галузі фізики напівпровідників та напівпровідникового приладобудування) 2017 р.; Пам'ятна відзнака Національної Академії Наук України (2018 р.); Подяка Президії НАН України (2010 р.); Подяка від Київського міського голови (2005 р.); Винахідник СРСР (1986 р.); член Українського Фізичного Товариства; член Міжнародного союзу кристалографів; заступник головного редактора журналу «Semiconductor Physics, Quantum Electronics&Optoelectronics» редактор тематичного розділу журналу «Український фізичний журнал» член редколегії наукового журналу «Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології»член редколегії наукового журналу «Фізика і хімія твердого тіла»
Публікації
Загальна кількість статей в реферованих журналах: 462 Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 219 Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 1055 (h-index = 15) Кількість цитувань статей в пошуковій системі Google Scholar: 1940 (h-index = 21) Кількість конференцій: 213 Монографії: 9Авторські свідоцтва: 5
Патенти: 9
Педагогічна діяльність
У вiддiлi пiд керiвництвом член-кор. НАН України, доктора фiз.-мат. наук, професора В.П. Кладька захищенi 11 дисертацiй кандидата фiз.-мат.наук, з них у 2006 р. аспiрантами А.В. Кучуком та О.М. Єфановим, у 2007 р. - м.н.с. Корчовим А.А., у 2009 р. - наук. співроб. М.В. Слободяном, у 2012 р. - аспіранткою Сафрюк Н.В. та н.с. Гудименком О.Й., 2016 р. - аспірантом Станчу Г.В., 2017 р. - аспірантом Кривим С.Б., а у 2019 р. аспірантом Любченком О.І., н.с. Максименко З.В. та м.н.с. Поліщук Ю.О.Список публікацій:
[<< попередня] ----- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 ----- [наступна >>]
- Structural transformation and functional properties of vanadium oxide films after low-temperature annealing
Yu. Goltvyanskyi, I. Khatsevych, A. Kuchuk, V. Kladko, V. Melnik, P. Lytvyn, V. Nikirin, B. Romanyuk // Thin Solid Films, 2014, V.564, P.179-185. - Эффект структурирования гетероэпитаксиальных систем CdHgTe/CdZnTe при облучении ионами серебра
Ф.Ф. Сизов, P.K. Савкина, А.Б. Смирнов, P.C. Удовицкая, В.П. Кладько, А.Й. Гудименко, H.B. Сафрюк, O.C. Литвин // Физика твердого тела, 2014, T. 56, вып.11, C.2091-2096.Download: [pdf] - Рефлектометричні дослідження нанопористих плівок з масивом наночастинок золота
В.П. Кладько, О.Й. Гудименко, С.Б. Кривий, П.М. Литвин, Е.Б. Каганович, I.М. Кріщенко, Е.Г. Манойлов // Український фiзичний журнал, 2014, T.59, №9, C.917-924.Download: [pdf] - Oxygen gettering in low-energy arsenic or antimony ion implanted Cz-silicon
O. Oberemok, V. Kladko, V. Litovchenko, B. Romanyuk, V. Popov, V. Melnik and J. Vanhellemont // Physica Status Solidi (C), 2014, V.11, Issue 11-12, P.1634–1639.Download: [pdf] - Formation of Shallow n-p Junctions in Cz-Si by Low-Energy Implantation of Carbon Ions
B. Romanyuk, V. Melnik, V. Popov, V. Litovchenko, V. Babich, V. Ilchenko, V. Kladko, and J. Vanhellemont // ECS Transactions, 2014, 64(11), P.187-198. doi:10.1149/06411.0187ecstDownload: [pdf] - Reflectometry study of nanoporous films with arrays gold nanoparticles
V.P. Kladko, O.Y. Gudymenko, S.B. Kriviy, P.M. Litvin, E.B. Kaganovich, I.M. Krishenko, E.G. Manoilov // Ukrainian Journal of Physics, 2014, V.59, No9, P.915-921.Download: [pdf] - Role of paramagnetic defects in light emission processes in Y-doped ZrO2 nanopowders
N Korsunska, M Baran, A Zhuk, Yu Polishchuk, T Stara, V Kladko, Yu Bacherikov, Ye Venger, T Konstantinova and L Khomenkova // Materials Research Express, 2014, V.1, Number 4, 045011 (12).Download: [pdf] - In situ photoluminescence/Raman study of reversible photo-induced structural transformation of nc-Si
V.O. Yukhymchuk, V.M. Dzhagan, M.Ya. Valakh, V.P. Kladko, O.J. Gudymenko, V.S. Yefanov and D.R.T. Zahn // Materials Research Express, 2014, V.1, Number 4, 045905.Download: [pdf] - Structuring effect of heteroepitaxial CdHgTe/CdZnTe systems under irradiation with silver ions
F.F. Sizov, R.K. Savkina, A.B. Smirnov, R.S. Udovytska, V.P. Kladko, A.I. Gudymenko, N.V. Safryuk, O.S. Lytvyn // Physics of the Solid State, 2014, Vol.56, Issue 11, pp.2160-2165.Download: [pdf] - Measuring the depth profiles of strain/composition in AlGaN-graded layer by high-resolution x-ray diffraction
A.V. Kuchuk, H.V. Stanchu, Chen Li, M.E. Ware, Yu.I. Mazur, V.P. Kladko, A.E. Belyaev and G.J. Salamo. // Journal of Applied Physics, 2014, V.116, Issue 22, 224302. (cited 1 times)Download: [pdf]
[<< попередня] ----- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 ----- [наступна >>]
